[发明专利]半导体存储装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201910090397.0 申请日: 2019-01-30
公开(公告)号: CN110875329B 公开(公告)日: 2023-07-18
发明(设计)人: 大贺淳;原川秀明;永岛贤史;福田夏树 申请(专利权)人: 铠侠股份有限公司
主分类号: H10B41/27 分类号: H10B41/27;H10B41/42;H10B43/27;H10B43/40;G11C16/04
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 万利军;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 存储 装置 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种半导体存储装置,具备:

第1层叠体,包括在第1方向上延伸的第1半导体层、沿所述第1方向彼此分离地配置的多个第1布线层、设置于所述第1半导体层与所述第1布线层之间的第1存储膜、在所述第1方向上延伸的第2半导体层、沿所述第1方向彼此分离地配置的多个第2布线层、设置于所述第2半导体层与所述第2布线层之间的第2存储膜、以及设置于所述第1半导体层与所述第2半导体层之间的第1绝缘层;

接合部件,设置于所述第1半导体层、所述第2半导体层以及所述第1绝缘层上,由导电材料形成;

第1层,配置在所述接合部件的上方,俯视时覆盖所述第1半导体层以及所述第1存储膜;

第2层,配置在所述接合部件的上方,位于在与所述第1方向正交的第2方向上与所述第1层离开的位置,俯视时覆盖所述第2半导体层以及所述第2存储膜;

第2层叠体,包括配置在所述第1层的上方且在所述第1方向上延伸的第3半导体层、沿所述第1方向彼此分离地配置的多个第3布线层、设置于所述第3半导体层与所述第3布线层之间的第3存储膜、配置在所述第2层的上方且在所述第1方向上延伸的第4半导体层、沿所述第1方向彼此分离地配置的多个第4布线层、设置于所述第4半导体层与所述第4布线层之间的第4存储膜、以及设置于所述第3半导体层与所述第4半导体层之间的第2绝缘层;以及

第5半导体层,设置于所述第1层与所述第2层之间,将所述第3半导体层与所述第4半导体层电连接,并且电连接于所述接合部件。

2.根据权利要求1所述的半导体存储装置,

所述第5半导体层的所述第2方向的宽度比所述接合部件的所述第2方向的宽度窄。

3.根据权利要求1所述的半导体存储装置,还具备:

第3绝缘层,将在第3方向上相邻的2个第1半导体层分离并将在所述第3方向上相邻的2个第2半导体层分离,所述第3方向是与所述第1方向以及所述第2方向正交的方向;和

第4绝缘层,设置于所述第3绝缘层上,将在所述第3方向上相邻的2个第3半导体层分离并将在所述第3方向上相邻的2个第4半导体层分离。

4.根据权利要求1所述的半导体存储装置,

所述第1存储膜~所述第4存储膜各自包括隧道绝缘膜、电荷蓄积层以及块绝缘膜。

5.根据权利要求4所述的半导体存储装置,

在所述第1层与所述第5半导体层之间、以及所述第2层与所述第5半导体层之间,设置有所述隧道绝缘膜。

6.根据权利要求1所述的半导体存储装置,

所述第1层以及所述第2层各自由导电材料形成。

7.根据权利要求1所述的半导体存储装置,

所述第1层具有第1面、和相对于所述第1面位于所述第1方向上方的第2面,在所述第2面上方设置有所述第3半导体层,在所述第1面上设置有层间绝缘膜,

所述第2层具有第3面、和相对于所述第3面位于所述第1方向上方的第4面,在所述第4面上方设置有所述第4半导体层,在所述第3面上设置有层间绝缘膜。

8.根据权利要求1所述的半导体存储装置,

还具备设置于基板的上方的导电层,

所述第1层叠体配置在所述导电层的上方,

所述第1半导体层以及所述第2半导体层电连接于所述导电层。

9.根据权利要求1所述的半导体存储装置,

还具备连接部件,所述连接部件设置于所述第3半导体层以及所述第4半导体层上,将所述第3半导体层与所述第4半导体层电连接。

10.根据权利要求9所述的半导体存储装置,还具备:

接触插塞,设置于所述连接部件上;和

位线,设置于所述接触插塞上,在所述第2方向上延伸。

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