[发明专利]相位检测方法及其相位检测电路

权利要求书

1.一种相位检测电路，其特征在于，供一测试机台量测一半导体装置的一待测电路的频率周期及/或相位移，其包含；

一倍频电路，其具有两输入端，其中一输入端可与一待测电路的输入端并联，供接收一输入讯号输入，而倍频电路的另一输入端与前待测电路的输出端连接，供接收一经待测电路而产生一具有相位差的讯号，且该倍频电路可将该输入讯号与该具有相位差的讯号结合后产生一倍频讯号；

一比较电路，其具有两输入端，其中一输入端连接该倍频电路的输出端而可接收该倍频讯号，另一输入端可接收一参考讯号，该比较电路可把该输入讯号与该具有相位差的讯号相比；

一突波过滤器，其具有一连接比较电路输出端的输入端，该突波过滤器可以通过预设的容许值将经过比较电路输出的比较讯号过滤掉其未超出容许值的讯号突波，其中该容许值可供调整；

一判读输出器，其具有一连接该突波过滤器输出端的输入端，令其依规则判读结果，并回报测试机台。

2.如权利要求1所述的相位检测电路，其特征在于，该半导体装置是动态随机存取内存。

3.如权利要求1所述的相位检测电路，其特征在于，该半导体装置是闪存。

4.如权利要求1或2或3所述的相位检测电路，其特征在于，该半导体装置的待测电路是延迟锁相电路。

5.如权利要求1或2或3所述的相位检测电路，其特征在于，该半导体装置的待测电路是延迟线电路。

6.如权利要求1所述的相位检测电路，其特征在于，该输入讯号与具有相位差的讯号结合后产生一个与该输入讯号的相位相同的二倍频讯号。

7.一种相位检测方法，其特征在于，供一测试机台量测一半导体装置的一待测电路的频率周期及/或相位移，其包含以下步骤：

取得两个讯号，其中一个讯号是从外部电路而来的输入讯号，另一个讯号是该输入讯号通过一待测电路后产生的具有相位差的讯号；

结合该输入讯号与该具有相位差的讯号而产生一倍频讯号；

把该倍频讯号与一频率及相位相同的参考讯号相比；

过滤参考讯号与倍频讯号的相位差是否在接受范围内；及

回报过滤后的结果。

8.如权利要求7所述的相位检测方法，其特征在于，该输入讯号与具有相位差的讯号结合后产生一个与该输入讯号的相位相同的二倍频讯号。