[发明专利]相位检测方法及其相位检测电路

说明书

本发明涉及一种相位检测方法及其相位检测电路，尤指一种通过简单电路，于取得相同频率、且具相位差的输入讯号与输出讯号后产生一新的倍频讯号，供与一相位相同、且频率相同的参考讯号比较，进一步并通过过滤倍频讯号与参考讯号的相位差是否在可接受范围内，判断其相位是否正确，同时完成频率周期的量测，藉以解决如DLL/DL电路仅能进行频率周期测试的问题，进一步能做90度的相位移测试，可以有效的提升检测的准确率，同时能运行时的检测，而能快速的测试。

技术领域

本发明隶属相位检测的技术领域，具体而言是指一种相位检测方法及其相位检测电路。

背景技术

由于半导体装置线路的尺寸微细化和复杂度均越来越惊人，使得半导体装置的深次微米和奈米设计中出现了新的缺陷类型，因此仅开发和使用功能性向量已经无法满足对产品测试的实际需求。如要维持半导体装置能达到要求的质量等级，需对于半导体装置进行更多型态的测试，甚至需要对于该半导体装置在制作完成后，需要进行全面性的测试，以确保该半导体装置的良率；

以半导体装置而言，其延迟锁相电路【Delay Locked Loop,以下简称DLL】/延迟线电路【Delay line,以下简称DL】是一种用来延迟输入讯号，以产生预期要的相位移输出讯号的电路，而在现今半导体装置的动态随机存取内存【Dynamic RAM,以下简称DRAM】与闪存【NAND flash】的主控端都需要DLL/DL电路来相位移双向数据控制引脚【Bi-directionalData Strobe，以下简称DQS】做为双倍数据率同步动态随机存取内存【Double Data Rate，以下简称DDR】模式下的数据取样讯号；

然而目前并无教示或建议于运行时可以全面性进行的相位检测方案，而相近似的方案仅仅是在检测确定该半导体装置的DLL/DL电路能在输入端输入讯号的频率周期下，其输出端能产生相同周期的讯号，并不能确定该讯号的相位移是否为90度；

换言之，现有技术只能量测该输出讯号的频率周期是否等于输入周期，故只能确定DLL/DL电路有输出频率，并无法量测出其是否相位移90度，而半导体装置的DLL/DL电路的关键功能是要做相位移，因此若不能量测其相位移，也就不能确定该DLL/DL电路功能的正确性，而如何解决前述问题，是业界的重要课题，也是本发明所探讨者。

于是，本发明即基于上述需求与问题深入探讨，并藉由本发明人多年从事相关开发的经验，而积极寻求解决之道，经不断努力的研究与发展，终于成功的发展出一种相位检测方法及其相位检测电路，其能有效解决现有无法有效量测相位移所造成的不便与困扰。

发明内容

因此，本发明的主要目的是在提供一种相位检测方法及其相位检测电路，藉以解决DLL/DL电路仅能进行频率周期测试的问题，进一步能做90度的相位移测试，且能提升检测的准确率。

本发明的主要目的是在提供一种相位检测方法及其相位检测电路，其能运行时的检测，而能有效、且快速的测试。

为此，本发明主要通过下列的技术手段，来具体实现上述的各项目的与效能，供一测试机台量测一半导体装置的一待测电路的频率周期及/或相位移，其包含有；

一倍频电路，其具有两输入端，其中一输入端可与一待测电路的输入端并联，供接收一输入讯号输入，而倍频电路的另一输入端与前该测电路的输出端连接，供接收一经待测电路而产生一具有相位差的输出讯号输入，且该倍频电路可将该输入讯号与该输出讯号结合后产生一组二倍频讯号；

一比较电路，其具有两输入端，其中一输入端连接该倍频电路的输出端，供接收该倍频讯号，而另一输入端则可供输入一参考讯号，令该比较电路可比较两个输入讯号的相位差异；

一突波过滤器，其具有一连接比较电路输出端的输入端，该突波过滤器可以通过预设的容许值将经过比较电路输出的比较讯号过滤掉其超出容许值的讯号突波；