[发明专利]高光磁环工件视觉检测方法

说明书

本发明涉及视觉检测技术领域，尤其是指一种高光磁环工件视觉检测方法，包括如下步骤，进行图像采集；将采集的图像进行二值化处理，得到高对比度图像；将高对比度图像进行斑点检测算法处理，识别图像中磁环工件的缺陷数量和缺陷位置；对磁环工件的缺陷数量进行判断，若检测的缺陷数量大于等于1则发出提醒信号，若小于1则进入下一步工序；将识别的磁环工件的缺陷数量和缺陷位置转换为可读取数据信息输出，显示器直接显示图像及标识于图像中的缺陷数量和缺陷位置使得作业人员一目了然，其中环形光源与工业相机均设置为可微调结构，便于作业人员根据需要进行调整光源的照射角度和位置以及拍摄的位置，进一步提升灵活性。

技术领域

本发明涉及视觉检测技术领域，尤其是指一种高光磁环工件视觉检测方法。

背景技术

机器视觉检测的特点是提高生产的柔性和自动化程度。在一些不适合于人工作业的危险工作环境或人工视觉难以满足要求的场合，常用机器视觉来替代人工视觉；同时在大批量工业生产过程中，用人工视觉检查产品质量效率低且精度不高，用机器视觉检测方法可以大大提高生产效率和生产的自动化程度。而且机器视觉易于实现信息集成，是实现计算机集成制造的基础技术。视觉检测就是用机器代替人眼来做测量和判断。视觉检测是指通过机器视觉产品，图像摄取装置分 CMOS 和CCD 两种，将被摄取目标转换成图像信号，传送给专用的图像处理系统，根据像素分布和亮度、颜色等信息，转变成数字化信号；图像系统对这些信号进行各种运算来抽取目标的特征，进而根据判别的结果来控制现场的设备动作。是用于生产、装配或包装的有价值的机制。它在检测缺陷和防止缺陷产品被配送到消费者的功能方面具有不可估量的价值。

正如上述情况，视觉检测有着庞大的市场价值，在视觉检测体系中最核心的不是硬件设备而是算法步骤，而算法步骤会因检测结果要求、产品外形、作业环境情况以及设计人员或团体的技术能力等因素出现千差万别，若核心算法步骤设计欠缺，则影响着整套视觉检测设备的运行效率和运行质量，而在磁环工件的检测识别算法步骤中，市场上大部分技术方案的使用成本高昂，同时算法步骤也较为复杂不利于一般技术人员的常规更改参数等操作设定。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种针对磁环工件识别准确率高，算法步骤简易易于常规技术人员日常更替修改设计参数的高光磁环工件视觉检测方法。

为了解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：一种高光磁环工件视觉检测方法，包括如下步骤，步骤1：使用工业相机搭配0.8至3倍率的远心镜头以及位于远心镜头正下方的环形光源对磁环工件进行图像采集；

步骤2：将采集的图像进行二值化处理，得到高对比度图像；

步骤3：将高对比度图像进行斑点检测算法处理，识别图像中磁环工件的缺陷数量和缺陷位置；

步骤4：对磁环工件的缺陷数量进行判断，若大于等于1则发出提醒信号，若检测的缺陷数量小于1则进入下一步工序；

步骤5：将识别的磁环工件的缺陷数量和缺陷位置转换为可读取数据信息输出。

优选的，所述步骤1中工业相机、远心镜头、环形光源和磁环工件依序成直线排列设置完成图像采集。

优选的，所述步骤1中环形光源发出的光照颜色为红色。

优选的，所述步骤1中磁环工件进行图像采集使的背景色为白色。

优选的，所述步骤1中的环形光源包括圆形壳体、安装于圆形壳体下侧面的圆形光灯以及贯穿圆形壳体与圆形光灯的拍摄孔道。

优选的，所述步骤1中使用300至600万像素的工业相机搭配1倍率的远心镜头，远心镜头与磁环工件之间的竖直间隔距离为80至150毫米，环形光源与磁环工件之间的竖直间隔距离为60至100毫米。