[发明专利]体积测量装置、扫描检查设备和体积测量方法

权利要求书

1.一种体积测量装置，其特征在于，包括：

第一测量装置，用于测量沿第一方向每间隔预设时间依次截取的被测物(4)在垂直于所述第一方向上的各截面的面积，所述第一方向为所述第一测量装置与所述被测物(4)之间发生相对位移的方向；

第二测量装置(3)，用于测量在每个所述预设时间内所述被测物(4)与所述第一测量装置之间的相对位移；和

体积计算装置，用于根据所述第一测量装置和所述第二测量装置(3)的测量结果对各截面面积与对应所述预设时间内的位移的乘积进行累加求和，以获得所述被测物(4)的体积。

2.根据权利要求1所述的体积测量装置，其特征在于，所述第一测量装置包括：

第一测量器(1)，设置在所述被测物(4)的第一侧，用于测量所述被测物(4)的所述截面位于第一侧的侧边在多个不同预设高度上与所述第一测量器(1)之间的第一距离；

第二测量器(2)，设置在所述被测物(4)的与所述第一侧相对的第二侧，用于测量所述被测物(4)的所述截面位于第二侧的侧边在多个不同预设高度上与所述第二测量器(2)之间的第二距离；和

面积计算装置，用于根据在同一预设高度上所述第一距离、所述第二距离和所述第一测量器(1)与所述第二测量器(2)之间的距离计算所述被测物(4)在该预设高度上的宽度，并对所述被测物(4)在每一预设高度上的宽度与该预设高度和相邻较低预设高度之间的高度差的乘积进行累加求和，以获得所述被测物(4)的截面面积。

3.根据权利要求1所述的体积测量装置，其特征在于，所述第一测量装置形成与所述第一方向相互垂直的测量平面。

4.根据权利要求1所述的体积测量装置，其特征在于，所述第二测量装置(3)所形成的测量平面为水平平面、竖直平面或者相对于水平面倾斜的平面。

5.根据权利要求2所述的体积测量装置，其特征在于，所述第一测量器(1)形成的测量平面和所述第二测量器(2)形成的测量平面共面。

6.根据权利要求2所述的体积测量装置，其特征在于，还包括第一支柱(5)和第二支柱(6)，所述第一测量器(1)安装在所述第一支柱(5)上，所述第二测量器(2)和所述第二测量装置(3)安装在所述第二支柱(6)上，且所述第二测量装置(3)所形成的测量平面为水平平面。

7.根据权利要求2所述的体积测量装置，其特征在于，还包括L型支架(7)，所述第二测量装置(3)所形成的测量平面为竖直平面，所述第一测量器(1)、所述第二测量器(2)和所述第二测量装置(3)均安装在所述L型支架(7)的横臂(72)上，且所述第二测量装置(3)位于所述第一测量器(1)和所述第二测量器(2)之间；或者，所述第二测量装置(3)安装在所述L型支架(7)的横臂(72)上，所述第一测量器(1)安装在所述L型支架(7)的竖臂(71)上，且所述横臂(72)的远离所述竖臂(71)的一端设有沿竖直方向延伸的延伸臂(73)，所述第二测量器(2)安装在所述延伸臂(73)上。

8.根据权利要求1所述的体积测量装置，其特征在于，还包括第一支架和第二支架，所述第一测量装置安装在所述第一支架上，所述第二测量装置(3)安装在所述第二支架上，且所述第一支架和所述第二支架沿所述第一方向间隔布置。

9.根据权利要求2所述的体积测量装置，其特征在于，所述第一测量器(1)、所述第二测量器(2)和所述第二测量装置(3)包括激光区域扫描仪。

10.一种扫描检查设备，其特征在于，包括如权利要求1～9任一项所述的体积测量装置。