[发明专利]三维可编程存储器制备方法在审
申请号: | 201910109123.1 | 申请日: | 2019-02-03 |
公开(公告)号: | CN109887923A | 公开(公告)日: | 2019-06-14 |
发明(设计)人: | 彭泽忠 | 申请(专利权)人: | 成都皮兆永存科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/11578 | 分类号: | H01L27/11578 |
代理公司: | 成都惠迪专利事务所(普通合伙) 51215 | 代理人: | 刘勋 |
地址: | 610000 四川省成都市高新*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 深孔 中间介质层 导电介质层 连接导体 制备 可编程存储器 填充导电介质 基础结构体 深孔内壁 沉积 三维 层叠方向 层叠结构 导电连接 击穿电压 存储器 次品率 击穿 良率 施加 | ||
1.三维可编程存储器制备方法,包括:
1)形成具有层叠结构的基础结构体的步骤;
2)在基础结构体上,沿层叠方向开设深孔的步骤;
3)在深孔内壁沉积中间介质层,并在内壁带有中间介质层的深孔内填充导电介质的步骤;
其特征在于,所述步骤3)包括:
3.1)在深孔内壁沉积中间介质层;
3.2)在内壁带有中间介质层的深孔内填充导电介质,形成内部导电介质层;
3.3)在选定的深孔内的内部导电介质层和选定的深孔外的连接导体之间施加击穿电压,以击穿内部导电介质层和深孔外的连接导体之间的中间介质层,使内部导电介质层和深孔外的连接导体之间形成导电连接。
2.如权利要求1所述的三维可编程存储器制备方法,其特征在于,所述中间介质层包括绝缘介质层。
3.如权利要求1所述的三维可编程存储器制备方法,其特征在于,所述连接导体位于深孔底部。
4.如权利要求1所述的三维可编程存储器制备方法,其特征在于,在步骤1)之后,还包括:在基础结构体上形成指叉结构的步骤。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的