[发明专利]毫米波安检系统及方法在审
申请号: | 201910109482.7 | 申请日: | 2019-02-03 |
公开(公告)号: | CN109709617A | 公开(公告)日: | 2019-05-03 |
发明(设计)人: | 赵自然;金颖康;白晓静;郑志敏;隆姣;李铮;刘念 | 申请(专利权)人: | 同方威视技术股份有限公司;清华大学 |
主分类号: | G01V3/12 | 分类号: | G01V3/12;G01V8/10;G06K9/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 胡良均 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 毫米波图像 检测对象 数据处理装置 可见光图像 毫米波 安检系统 违禁物品 毫米波成像 可见光成像 信息采集装置 | ||
本公开提供一种毫米波安检系统及方法。毫米波安检系统包括:信息采集装置,其具有毫米波成像机构和可见光成像机构,所述毫米波成像机构生成被检测对象的毫米波图像,所述可见光成像机构生成被检测对象的可见光图像;和数据处理装置,基于所述毫米波图像和可见光图像判断被检测对象是否包括违禁物品,其中,所述数据处理装置首先基于所述毫米波图像判断所述被检测对象是否存在嫌疑物品,如果判断存在嫌疑物品,则所述数据处理装置基于可见光图像和毫米波图像判断所述嫌疑物品是否是违禁物品。
技术领域
本发明涉及毫米波安检领域,具体地,涉及毫米波人体安检系统和方法。
背景技术
毫米波是一种波长为1~10毫米的电磁波,能够穿透衣物检测出藏匿于衣物下的枪支、爆炸物等违禁物品,且毫米波辐射属于电磁辐射,在使用中不会对人体造成伤害,因此,毫米波在安检领域受到广泛应用;而毫米波成像不受衣物影响,且能够获取人体形状特征以及藏匿于服饰下的危险物品,毫米波也可用于对物品的筛查,因而广泛用于人体安检领域。然而,现有的毫米波安检系统或方法经常造成误判。需要提供一种新型的毫米波安检系统和安检方法。
发明内容
本公开针对在安检中无法对毫米波图像可疑区域做出准确判定的问题,提出了一种毫米波成像与可见光成像相结合的安检方法,提高了对违禁物品的检查精度、降低误报、提高安检效率。
本公开还针对人体安检中无法直接判定毫米波图像可疑区域是否为服饰以及安检过程中被检查人员需经过多类安检类型的问题,提出了一种毫米波成像安检与可见光成像识别相结合的人体违禁物品携带检查与身份识别方法,提高了人体安检中违禁物品携带检查的精度、降低误报、提高安检效率。
本公开提供一种毫米波安检系统,包括:
信息采集装置,其具有毫米波成像机构和可见光成像机构,所述毫米波成像机构配置成并生成被检测对象的毫米波图像,所述可见光成像机构配置成生成被检测对象的可见光图像;和
数据处理装置,其与所述信息采集装置数据连通并配置成获取所述毫米波成像机构提供的被检测对象的毫米波图像和可见光成像机构提供的可见光图像并基于所述毫米波图像和可见光图像判断被检测对象是否包括违禁物品,其中,所述数据处理装置首先基于所述毫米波图像判断所述被检测对象是否存在嫌疑物品,如果判断存在嫌疑物品,则所述数据处理装置基于可见光图像和毫米波图像判断所述嫌疑物品是否是违禁物品。
根据本公开的一个方面,所述毫米波成像机构配置成通过被检测对象发出的毫米波以生成被检测对象的毫米波图像,或配置成发射毫米波照射被检测对象并检测从被检测对象反射的反射波以生成毫米波图像。
根据本公开的一个方面,在所述毫米波安检系统中,
数据处理装置进一步配置成在所述基于所述毫米波图像判断所述被检测对象存在嫌疑物品时,数据处理装置将毫米波图像的一个或多个区域标记为可能存在嫌疑物品的嫌疑区域;并且,
所述数据处理装置进一步配置成在所述基于可见光图像和毫米波图像判断所述嫌疑物品是否是违禁物品,将可见光图像与毫米波图像对照和比对,从而判断一个或多个所述嫌疑区域中的嫌疑物品是否是被检测对象外表面上的非违禁物品,如果是,则判定该嫌疑区域内不包含违禁物品,反之,则判定该嫌疑区域包含违禁物品。
根据本公开的一个方面,所述数据处理装置进一步配置成在所述基于可见光图像和毫米波图像判断所述嫌疑物品是否是违禁物品中,如果可见光图像的对应的一个或多个所述嫌疑区域中包括物品,则获取去除可见光图像中该一个或多个嫌疑区域内的该物品后的被检测对象的毫米波图像,如果该一个或多个嫌疑区域毫米波图像内不存在除了所述去除可见光图像中一个或多个嫌疑区域内的物品以外的其他嫌疑物品,则判断毫米波图像中的一个或多个所述嫌疑区域中的嫌疑物品是可见光图像中的该物品;如果毫米波图像中除了所述去除可见光图像中一个或多个嫌疑区域内的物品以外该一个或多个嫌疑区域内仍然存在该嫌疑物品,则判断被检测对象携带嫌疑物品。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于同方威视技术股份有限公司;清华大学,未经同方威视技术股份有限公司;清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910109482.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:蓝牙皮套键盘休眠磁铁测试装置及测试方法
- 下一篇:一种智能化集成安检方法