[发明专利]一种对中装置及其对中测量方法

权利要求书

1.一种对中装置，其特征在于，包括一第一对中模板和一第二对中模板，所述第一对中模板包括一第一对中孔及至少一第一定位孔，所述第二对中模板包括一第二对中孔及至少一第二定位孔，所述第一对中模板通过所述第一定位孔固定在一第一受测物上，所述第二对中模板通过所述第二定位孔固定在一第二受测物上，所述第一对中孔与所述第二对中孔相对设置，通过获取所述第一对中孔与所述第二对中孔的对中度得到所述第一受测物与所述第二受测物的对中度。

2.根据权利要求1所述的对中装置，其特征在于，所述第一对中模板包括两个呈对角设置的所述第一定位孔，所述第一对中孔位于两个所述第一定位孔的连心线上。

3.根据权利要求2所述的对中装置，其特征在于，所述第二对中模板包括两个呈对角设置的所述第二定位孔，所述第二对中孔位于两个所述第二定位孔的连心线上。

4.根据权利要求3所述的对中装置，其特征在于，所述第一受测物具有相对设置的两个第一定位销，所述第二受测物具有相对设置的两个第二定位销，所述第一定位孔允许所述第一定位销插入，所述第一对中孔的中心与两个所述第一定位销直径连线的中心重合，所述第二定位孔允许所述第二定位销插入，所述第二对中孔的中心与两个所述第二定位销直径连线的中心重合。

5.根据权利要求3所述的对中装置，其特征在于，所述第二对中模板还包括两个呈对角设置的螺纹定位孔，所述螺纹定位孔与所述第二定位孔分别设置在所述第二对中模板的四角。

6.根据权利要求1所述的对中装置，其特征在于，所述第一对中孔和所述第一定位孔的相对位置与所述第二对中孔和所述第二定位孔的相对位置相同。

7.一种对中测量方法，采用权利要求1所述的对中装置，其特征在于，包括以下步骤：

将所述第一对中模板安装在所述第一受测物上；

在所述第一对中模板上安装一第一光靶，所述第一光靶的中心与所述第一对中孔中心重合；

将所述第二对中模板安装在所述第二受测物上；

将一对中仪器设置在所述第二受测物上方，所述对中仪器具有一垂直轴，调整所述对中仪器，使所述垂直轴与所述第一光靶的中心重合；

在所述第二对中模板上安装一第二光靶，所述第二光靶的中心与所述第二对中孔中心重合；

测量所述第二光靶的中心与所述垂直轴的偏差，得到所述第一对中孔与所述第二对中孔的对中度，进而得到所述第一受测物与所述第二受测物的对中度。

8.根据权利要求7所述的对中测量方法，其特征在于，在将所述第一对中模板安装在所述第一受测物上的步骤之前还包括如下步骤：校正所述第二受测物的水平度至预设精度值，复验所述第一受测物的水平度，使得所述第一受测物的水平度至预设精度值。

9.根据权利要求8所述的对中测量方法，其特征在于，所述预设精度值为小于或等于0.02mm。

10.根据权利要求7所述的对中测量方法，其特征在于，所述第一受测物具有相对设置的两个第一定位销，所述第二受测物具有相对设置的两个第二定位销，所述第一定位销插入所述第一定位孔，所述第一对中孔的中心与两个所述第一定位销直径连线的中心重合，所述第二定位销插入所述第二定位孔，所述第二对中孔的中心与两个所述第二定位销直径连线的中心重合。

11.根据权利要求7所述的对中测量方法，其特征在于，在所述第二受测物上方建立对中仪器测量基准平台，使对中仪器的中心与一水银池中心重合，得到所述对中仪器的垂直轴。