[发明专利]检测方法及检测系统

说明书

本发明为检测方法及检测系统，检测系统能执行检测方法的移动步骤、图像获取步骤、修正判断步骤、修正步骤及检测步骤。检测系统在控制探针装置的探针抵压于待测件的电性连接部前，将依序执行移动步骤及图像获取步骤，以使探针移动至电性连接部的上方，并对应产生包含探针及电性连接部的图像获取信息，而后处理装置将执行修正判断步骤，以判断探针及电性连接部是否位于正确的相对位置；若位于正确的相对位置，则执行检测步骤，以使探针抵压电性连接部以进行电气检测；若非位于正确的相对位置，则执行修正步骤，以调整探针的位置。

技术领域

本发明涉及一种检测方法及检测系统，特别是一种对面板进行检测的检测方法及检测系统。

背景技术

现有的检测系统，特别是用来检测高分辨率的显示面板的检测系统，及检测系统所执行的检测方法，容易发生探针与显示面板的电性连接部彼此间的相对位置偏差，从而发生探针未正确地抵压于显示面板的电性连接部，据以无法正确进行相关检测作业的问题。随着相同尺寸条件下显示面板的分辨率的要求越高，其电性连接部的尺寸则相对地缩小，而这也相对地挑战机构的精度与重现性，因此上述问题发生的机率越高。于此所指的高分辨率显示面板的像素例如为2048*1024，且各个像素点若是由三个LED所构成，则显示面板整体的接点数为2048*1024*3个。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种检测方法及检测系统，用以改善现有技术中，应用于面板检测的检测系统及其所执行的检测方法，容易发生有探针无法正确抵压于面板的电性连接部，从而无法正确地进行相关检测作业的问题。

为了实现上述目的，本发明提供一种检测方法，其适用于一检测系统，所述检测系统包含一探针装置、一图像捕获设备及一处理装置，所述检测系统能执行所述检测方法，而使所述探针装置的多个探针抵压于一待测件的多个电性连接部，据以对所述待测件进行一电气检测，所述检测方法包含以下步骤：一移动步骤：控制所述探针装置移动，以使多个所述探针移动至所述待测件的多个所述电性连接部的上方；一图像获取步骤：控制所述图像捕获设备，获取多个所述探针及其对应的多个所述电性连接部的图像，以产生一图像获取信息；一修正判断步骤：依据所述图像获取信息，判断各个所述探针与其所相对应的所述电性连接部于X轴方向的偏移量或Y轴方向的偏移量是否超出一容许范围；若所述处理装置判断至少一个所述探针相对于其所对应的所述电性连接部，于X轴方向的偏移量或Y轴方向的偏移量超出一容许范围时，执行以下步骤：一修正步骤：依据所述图像获取信息，控制所述探针装置移动，以使多个所述探针相对于其所对应的多个所述电性连接部移动；于所述修正步骤后，则执行一检测步骤；若所述处理装置判断至少一个所述探针相对于其所对应的所述电性连接部，于X轴方向的偏移量及Y轴方向的偏移量皆符合所述容许范围时，执行以下步骤：所述检测步骤：控制所述探针装置动作，以使各个所述探针抵压其所对应的多个所述电性连接部，据以对所述待测件进行所述电气检测。

优选地，于所述移动步骤前还包含一机台校正作业，所述机台校正作业包含以下步骤：一校正移动步骤：控制所述探针装置移动，以使多个所述探针移动至所述待测件的多个所述电性连接部的上方；一校正图像获取步骤：控制所述图像捕获设备，获取多个所述探针及其对应的多个所述电性连接部的图像，以产生一校正图像获取信息；一位置校正步骤：依据所述校正图像获取信息，使多个所述探针相对于其所对应的多个所述电性连接部，沿X轴方向、Y轴方向、Z轴方向及θ方向中的至少一个移动；其中，所述θ方向是以Z轴为中心相对于Z轴旋转的方向。

优选地，于所述校正移动步骤中，是利用所述处理装置依据一预定坐标信息，控制所述探针装置的多个所述探针，移动至所述待测件的部分所述电性连接部的上方；所述预定坐标信息包含X轴坐标数据、Y轴坐标数据及Z轴坐标数据。

优选地，所述检测系统执行所述检测方法，以对多个所述待测件逐一进行所述电气检测时，所述机台校正步骤被执行单一次后，将重复执行所述移动步骤、所述图像获取步骤及所述修正判断步骤，以逐一对所述待测件进行所述电气检测。