[发明专利]一种测量装置及其应用、测量方法及工件加工方法

说明书

本发明涉及测量工装领域，具体涉及一种测量装置及其应用、测量方法及工件加工方法。包括测量主体、触头和千分表，测量主体直线延伸，触头和/或千分表滑动且可锁紧地设置在测量主体上，触头与测量主体垂直设置，千分表的轴线平行于测量主体。通过合理设置测量装置的结构，可在测量时通过触头和千分表限定出标件的尺寸，然后再测量待检测工件的尺寸，通过对比法可得到标件和待检测工件之间的差值，结合标件的尺寸和差值可得到待检测工件的尺寸。上述过程无需三坐标测量装置对每个工件进行测量，只需采用三坐标测量出标件的尺寸，即可准确得到其它待检测工件的尺寸，解决了现有技术中三坐标测量成本高、延长生产周期的问题。

技术领域

本发明涉及测量工装领域，具体涉及一种测量装置及其应用、测量方法及工件加工方法。

背景技术

风电齿圈止口尺寸的检测一直是机械加工检测的难点，主要是大型齿圈所用的量具精度差，受每个人的手感影响大，测量准确性不够，造成加工和检测过程无法准确判定尺寸是否能满足要求。虽三坐标测量可以精确测量，但是需要恒温24h，且大型三坐标的测量成本较高达到3500元/h。在加工中，也不可能加工一半就拿下来，再去三坐标恒温检测，这样也会增加很高的成本，且大大影响生产周期。

发明内容

为了解决现有技术中三坐标测量成本高、延长生产周期的问题，本发明提出一种测量装置及其应用、测量方法及工件加工方法，解决了上述技术问题。本发明的技术方案如下：

一种测量装置，包括测量主体、触头和千分表，所述测量主体直线延伸，所述触头和/或所述千分表滑动且可锁紧地设置在测量主体上，所述触头与所述测量主体垂直设置，所述千分表的轴线平行于所述测量主体。

通过合理设置测量装置的结构，可在测量时通过触头和千分表限定出标件的尺寸，然后再测量待检测工件的尺寸，通过对比法可得到标件和待检测工件之间的差值，结合标件的尺寸和差值可得到待检测工件的尺寸。上述过程无需三坐标测量装置对每个工件进行测量，只需采用三坐标测量出标件的尺寸，其它的待检测工件均可通过上述测量装置进行检测，即可准确得到其它待检测工件的尺寸，后期加工可直接根据差值进行加工，大大缩短了生产周期，降低了成本。

进一步地，所述测量主体为测量尺，所述触头的远离所述测量主体的一端为接触端，所述接触端呈外凸的鼓形。

一种上述的测量装置在测量风电内齿圈的止口尺寸中的应用。上述测量装置可用于测量内径、外径和长度等，其可用于测量风电内齿圈的止口尺寸。

一种测量方法，采用上述的测量装置，包括如下步骤：

S1、调整测量装置，使千分表读数为零时，千分表的测量触头与触头的触点之间的距离等于标件的标准尺寸，锁紧触头和千分表；

S2、采用调整后的测量装置来测量待检测工件的尺寸，千分表的读数的绝对值即为待检测工件的尺寸与标准尺寸之间的差值。

上述检测方法，可在测量时通过触头和千分表限定出标件的尺寸，然后再测量待检测工件的尺寸，通过对比法可得到标件和待检测工件之间的差值。进一步地，设置千分表读数为零时，千分表的测量触头与触头的触点之间的距离等于标件的标准尺寸，则在测量待检测工件时，千分表的直接读数的绝对值即为待检测工件的尺寸与标准尺寸之间的差值，无需进一步计算。

进一步地，所述测量方法用于测量待检测工件的内孔孔径时，所述千分表的测量触头远离所述触头设置，步骤S1包括：

A1、保持触头与标件的内孔孔壁接触，并锁紧触头；

A2、滑动千分表，使千分表的测量触头与标件的内孔孔壁接触，调整测量主体，使测量主体经过内孔圆心；

A3、细调千分表，使千分表读数为零时，千分表的测量触头与触头的触点之间的距离等于标件的内孔孔径；

A4、锁紧千分表。