[发明专利]一种应用于单片机系统的时间自动校准方法有效
申请号: | 201910129696.0 | 申请日: | 2019-02-21 |
公开(公告)号: | CN109918337B | 公开(公告)日: | 2023-02-03 |
发明(设计)人: | 李玮棠 | 申请(专利权)人: | 广州技象科技有限公司 |
主分类号: | G06F15/78 | 分类号: | G06F15/78;G06F1/14 |
代理公司: | 成都顶峰专利事务所(普通合伙) 51224 | 代理人: | 刘林 |
地址: | 510000 广东省广州市海珠区新*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 应用于 单片机 系统 时间 自动 校准 方法 | ||
1.一种应用于单片机系统的时间自动校准方法,其特征在于:包括如下步骤:
S1:根据本地辅正值,启动自动校准流程;
S2:进行自学习获取MCU时钟偏差,并获取辅正参数;
S3:根据辅正参数获取当前MCU时间;
所述步骤S2包括如下步骤:
S2-1:进行采样,判断是否为第一次采样,若是则记录当前真实时间和当前MCU总运行时间,采样次数加一,等待Period时间后重复步骤S2-1,执行下一次采样,否则进入步骤S2-2;
S2-2:判断当前采样次数是否小于6次,若是则记录当前真实时间差和当前MCU时间差,采样次数加一,等待Period时间后返回步骤S2-1,执行下一次采样,否则进入步骤S2-3;
S2-3:分别过滤掉真实时间差和MCU时间差中的最大值和最小值,并分别获取过滤后的真实时间差总和以及MCU时间差总和;
S2-4:判断真实时间差总和是否大于MCU时间差总和,若是则输出MCU时间比真实时间慢,校正方向为正向,获取与记录校正值,并将当前校正方向与当前校正值作为辅正参数,进入步骤S2-7,否则进入步骤S2-5;
S2-5:判断真实时间差总和是否小于MCU时间差总和,若是则输出MCU时间比真实时间快,校正方向为负向,获取与记录校正值,并将当前校正方向与当前校正值作为辅正参数,进入步骤S2-7,否则进入步骤S2-6;
S2-6:输出MCU时间跟真实时间是一致,无需辅正参数,结束校准,并重置采样次数;
S2-7:将辅正参数保存至本地,并重置采样次数,进入步骤S3;
所述步骤S3包括如下步骤:
S3-1:获取辅正参数,判断辅正参数是否有效,若是则根据校正值获取辅正值,并进入步骤S3-2,否则直接输出当前原始MCU时间,并结束校准;
S3-2:根据校正方向、辅正值以及MCU时间参数,获取并输出当前MCU时间;
S3-3:更新MCU时间参数,
所述步骤S3-1中,获取辅正值的公式为:
Deviation=(lbolt_rtc-lbolt_StorRtc)/Value
式中,Deviation为辅正值;Value为校正值;lbolt_rtc为当前原始MCU时间;lbolt_StorRtc为上一次校准的原始MCU时间。
所述步骤S3-2中,获取并输出当前MCU时间,包括:
若校正方向是正向,其计算公式为:
gStorTimei+1=gStorTimei+lbolt_rtc-lbolt_StorRtc+Deviation
若校正方向是负向,其计算公式为:
gStorTimei+1=gStorTimei+lbolt_rtc-lbolt_StorRtc-Deviation
式中,gStorTimei+1为当前MCU时间;gStorTimei为上一次校准输出的MCU时间;Deviation为辅正值;lbolt_rtc为当前原始MCU时间;lbolt_StorRtc为上一次校准的原始MCU时间;i为迭代指示量。
2.根据权利要求1所述的应用于单片机系统的时间自动校准方法,其特征在于:所述步骤S1包括如下步骤:
S1-1:开启轮询任务,当到达检查周期Period时间时执行轮询任务;
S1-2:查询本地辅正值,判断辅正值是否有效,若是则将当前Period设置为1天,获取网络时间,并返回步骤S1-1,否则进入步骤S1-3;
S1-3:判断当前尝试获取辅正值的次数是否少于10次,若是则进入步骤S1-4,否则退出当前获取辅正值的行为,将当前Period设置为1天,获取网络时间,并返回步骤S1-1;
S1-4:将当前Period设置为10分钟,启动自动校准流程,并进入步骤S2。
3.根据权利要求1所述的应用于单片机系统的时间自动校准方法,其特征在于:所述步骤S2-1中,记录真实时间,并将其转化为相对于系统预设初始时间设置的相对秒数,并记录当前MCU总运行时间秒数,所述真实时间的相对秒数与当前MCU总运行时间秒数格式保持一致。
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