[发明专利]光纤阵列模块测量装置在审
申请号: | 201910130955.1 | 申请日: | 2019-02-20 |
公开(公告)号: | CN109752169A | 公开(公告)日: | 2019-05-14 |
发明(设计)人: | 王苏阳;衣丽霞;蔡迪;张红骏 | 申请(专利权)人: | 莱特巴斯光学仪器(镇江)有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京卓特专利代理事务所(普通合伙) 11572 | 代理人: | 段宇 |
地址: | 212009 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 夹持底座 测试探头 光纤阵列 测试光源 调整组件 夹持 光纤阵列模块 测量装置 微调座 阵列式排布 结构稳定 安装孔 测量 | ||
1.光纤阵列模块测量装置,其特征在于:包括平台、安装在平台上的光纤阵列夹持调整组件、测试光源夹持调整组件和测试探头夹持调整组件,所述平台设有阵列式排布的安装孔,所述光纤阵列夹持调整组件包括光纤阵列夹持底座、卡合在光纤阵列夹持底座上的X轴光纤阵列夹持底座、卡合在X轴光纤阵列夹持底座上的Y轴光纤阵列夹持底座、卡合在Y轴光纤阵列夹持底座上的Z轴光纤阵列夹持底座,所述Z轴光纤阵列夹持底座设有微调座,所述微调座设有光纤阵列模块夹具,所述光纤阵列模块夹具设有光纤阵列模块夹槽,所述光纤阵列模块夹槽的侧面设有光纤阵列模块夹头,所述光纤阵列模块夹槽内设有光纤阵列模块,所述测试光源夹持调整组件包括测试光源夹持底座、卡合在测试光源夹持底座上的X轴测试光源夹持底座,所述X轴测试光源夹持底座设有测试光源夹持立柱,所述测试光源夹持立柱设有测试光源夹持平板,所述测试光源夹持平板设有测试光源定位座,所述测试光源定位座设有测试光源,所述测试探头夹持调整组件包括测试探头夹持底座、卡合在测试探头夹持底座上的X轴测试探头夹持底座、卡合在X轴测试探头夹持底座上的Y轴测试探头夹持底座,所述Y轴测试探头夹持底座设有测试探头夹持立柱,所述测试探头夹持立柱设有测试探头。
2.根据权利要求1所述的光纤阵列模块测量装置,其特征在于:所述测试光源夹持调整组件包括X轴测试光源夹持平移旋钮,所述X轴测试光源夹持平移旋钮与X轴测试光源夹持底座连接。
3.根据权利要求1所述的光纤阵列模块测量装置,其特征在于:所述光源能够沿轴方向移动,所述光源的发射方向为Y轴方向。
4.根据权利要求1所述的光纤阵列模块测量装置,其特征在于:所述测试光源夹持立柱竖直设置,所述测试光源夹持平板水平设置。
5.根据权利要求1所述的光纤阵列模块测量装置,其特征在于:所述X轴测试探头夹持底座连接有X轴测试探头夹持平移旋钮,所述Y轴测试探头夹持底座连接有Y轴测试探头夹持平移旋钮。
6.根据权利要求1所述的光纤阵列模块测量装置,其特征在于:所述测试探头夹持立柱竖直设置,所述测试探头水平设置。
7.根据权利要求1所述的光纤阵列模块测量装置,其特征在于:所述测试探头能够沿X轴和Y轴方向移动。
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