[发明专利]光纤阵列模块测量装置

说明书

本发明为光纤阵列模块测量装置，包括平台、安装在平台上的光纤阵列夹持调整组件、测试光源夹持调整组件和测试探头夹持调整组件，平台设有阵列式排布的安装孔，光纤阵列夹持调整组件包括光纤阵列夹持底座、X轴光纤阵列夹持底座、Y轴光纤阵列夹持底座、Z轴光纤阵列夹持底座，Z轴光纤阵列夹持底座设有微调座，微调座设有光纤阵列模块，测试光源夹持调整组件包括测试光源夹持底座、X轴测试光源夹持底座，X轴测试光源夹持底座设有测试光源，测试探头夹持调整组件包括测试探头夹持底座、X轴测试探头夹持底座、Y轴测试探头夹持底座，Y轴测试探头夹持底座设有测试探头。本发明结构稳定，测量误差小。

技术领域

本发明涉及光学领域，特别是涉及光纤阵列模块测量装置。

背景技术

目前针对光纤阵列模块的每一路进行性能测试时，没有专门的工装，需要人员手持测量设备对每一路进行测试，耗时长，效率低，这非常不利于光纤阵列模块的大批量生产。并且人员手持测量设备稳定性不足，测量结果误差很大，不利于对生产结果进行快速判断。

发明内容

本发明的目的是提供一种结构稳定、测量误差小的光纤阵列模块测量装置。

本发明通过如下技术方案实现上述目的：一种光纤阵列模块测量装置，包括平台、安装在平台上的光纤阵列夹持调整组件、测试光源夹持调整组件和测试探头夹持调整组件，所述平台设有阵列式排布的安装孔，所述光纤阵列夹持调整组件包括光纤阵列夹持底座、卡合在光纤阵列夹持底座上的X轴光纤阵列夹持底座、卡合在X轴光纤阵列夹持底座上的Y轴光纤阵列夹持底座、卡合在Y轴光纤阵列夹持底座上的Z轴光纤阵列夹持底座，所述Z轴光纤阵列夹持底座设有微调座，所述微调座设有光纤阵列模块夹具，所述光纤阵列模块夹具设有光纤阵列模块夹槽，所述光纤阵列模块夹槽的侧面设有光纤阵列模块夹头，所述光纤阵列模块夹槽内设有光纤阵列模块，所述测试光源夹持调整组件包括测试光源夹持底座、卡合在测试光源夹持底座上的X轴测试光源夹持底座，所述X轴测试光源夹持底座设有测试光源夹持立柱，所述测试光源夹持立柱设有测试光源夹持平板，所述测试光源夹持平板设有测试光源定位座，所述测试光源定位座设有测试光源，所述测试探头夹持调整组件包括测试探头夹持底座、卡合在测试探头夹持底座上的X轴测试探头夹持底座、卡合在X轴测试探头夹持底座上的Y轴测试探头夹持底座，所述Y轴测试探头夹持底座设有测试探头夹持立柱，所述测试探头夹持立柱设有测试探头。

进一步的，所述测试光源夹持调整组件包括X轴测试光源夹持平移旋钮，所述X轴测试光源夹持平移旋钮与X轴测试光源夹持底座连接。

进一步的，所述光源能够沿轴方向移动，所述光源的发射方向为Y轴方向。

进一步的，所述测试光源夹持立柱竖直设置，所述测试光源夹持平板水平设置。

进一步的，所述X轴测试探头夹持底座连接有X轴测试探头夹持平移旋钮，所述Y轴测试探头夹持底座连接有Y轴测试探头夹持平移旋钮。

进一步的，所述测试探头夹持立柱竖直设置，所述测试探头水平设置。

进一步的，所述测试探头能够沿X轴和Y轴方向移动。

与现有技术相比，本发明光纤阵列模块测量装置的有益效果是：相比人工手持测量缩短约5倍的时间，大大提高了检测效率，为光纤阵列模块的批量生产解决了检测问题，具有结构稳定，测量误差小的优点。

附图说明

图1是本发明的结构示意图。

图2是光纤阵列夹持调整组件的结构示意图。

图3是测试光源夹持调整组件的结构示意图。

图4是测量探头夹持调整组件的结构示意图。

具体实施方式