[发明专利]阻式存储器的误码率测试方法

权利要求书

1.一种阻式存储器的误码率测试方法，其特征在于，所述方法包括：

在测试系统中；

所述测试系统的任意波形发生器输出为两个信号，分别为存写信号及选取信号；

所述测试系统的示波器输入为两个信号，分别为所述存写信号经过阻式存储器的激发电流及所述选取信号；

所述示波器的数学通道的数据为所述激发电流和所述选取信号的点积结果；

所述点积结果将原本复杂的波形简化为了读取阶段不变，其余时间位置近似为零的类似方波的信号；

在计算机中，接收所述点积结果，并进行误码率分析给出误码率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试系统是基于探针台、晶圆和无源探针的，并且不使用独立的有源放大器或无源放大器。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述存写信号的存写序列单元分为初始化阶段、写入阶段、等待阶段以及读取阶段；

所述误码率的对象是所述写入阶段的，所述写入阶段的电压幅值可以是擦写电压幅值，或者读取电压幅值，也可以是任意的波形。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述读取阶段的时间长度接近所述存写序列长度的一半。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述选取信号的选取序列单元分为高电平阶段和低电平阶段。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述高电平阶段的时间位置是所述读取阶段的时间位置的子集。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获得所述点积结果的计算操作是在所述示波器内部的高速数学运算单元内完成的。

8.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述示波器的采样率不大于50倍如下数值，即所述存写信号的所述读取阶段的两倍的倒数；且如果本次采样位于所述读取阶段的时间位置，则下一次采样不能进入下一所述存写序列单元的读取阶段的时间位置。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算机中的误码率分析使用并行计算架构。

10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述误码率分析使用分类器算法。