[发明专利]应用于闪存控制器的编码器自我测试电路及相关的方法

说明书

本发明公开了一种应用于闪存控制器的编码器自我测试电路，包括控制电路和编码器。在编码器自我测试电路的操作中，在不对任何闪存进行存取的情形下，所述控制电路产生一输入数据至所述编码器，所述编码器对所述输入数据进行编码以产生一校验码至所述控制电路，以供判断所述编码器的功能是否正常。本发明的自我测试电路可在不需要连结到闪存模块的情形下对闪存控制器中的编码器进行功能测试，以准确地判断出编码器的功能是否异常，以避免现有技术中需要让闪存控制器与闪存模块相连后才能进行测试，而造成当闪存控制器有异常时导致相连结的闪存模块需要另外进行剥离制程的麻烦。

技术领域

本发明关于闪存控制器，尤指一种应用在闪存控制器中的编码器自我测试电路。

背景技术

在闪存控制器中会设计至少一个编码器以对输入数据进行编码以产生相对应的校验码后，再连同输入数据一并写入到闪存芯片中。然而，考虑到编码器在功能上的正确性，在工厂内的测试阶段时，闪存控制器会与闪存芯片链接，之后闪存控制器会被控制以持续地将数据进行编码后写入至闪存芯片中，再将数据从闪存芯片中读取出来并进行解码，以判断闪存控制器的编码及解码功能是否正常。然而，上述作法至少会遇到以下两种问题，第一个问题是当判断闪存控制器的编码及解码功能不正常时，与闪存控制器相连接的闪存芯片便浪费了，或是需要另外进行剥离(debonding)制程以使得闪存芯片可以重复使用；而第二个问题则是当判断闪存控制器的编码及解码功能不正常时，无法正确迅速地判断是编码器的问题还是解码器的问题，因而造成工程师的困扰。

发明内容

因此，本发明的目的之一在于提供一种应用于闪存控制器的编码器自我测试电路，其可以在不需要闪存芯片的情形下，单独地对编码器进行测试，以解决现 有技术中的问题。

在本发明的一个实施例中，公开一种应用于闪存控制器的编码器自我测试电路，其包括有一控制电路以及一编码器。在编码器自我测试电路的操作中，在不对任何闪存进行存取的情形下，所述控制电路产生一输入数据至所述编码器，所述编码器对所述输入数据进行编码以产生一校验码至所述控制电路，以供判断所述编码器的功能是否正常。

在本发明的另一个实施例中，公开了一种应用于闪存控制器的编码器自我测试方法，其包括有以下步骤：在不对任何闪存进行存取的情形下：产生一输入数据至一编码器；使用所述编码器对所述输入数据进行编码以产生一校验码；以及根据所述校验码以判断所述编码器的功能是否正常。

附图说明

图1为依据本发明一实施例的一闪存控制器的示意图。

图2为根据本发明一实施例的编码器与控制电路的示意图。

图3为根据本发明一实施例的应用于闪存控制器的编码器自我测试方法的流程图。

其中，附图标记说明如下：

110 闪存控制器

112 微处理器

112C 程序码

112M 只读存储器

114 控制逻辑

116 缓冲存储器

118 接口逻辑

120 闪存模块

130 主装置