[发明专利]绝对位置信息检测装置及其控制方法在审
申请号: | 201910146894.8 | 申请日: | 2019-02-27 |
公开(公告)号: | CN110274618A | 公开(公告)日: | 2019-09-24 |
发明(设计)人: | 松添雄二 | 申请(专利权)人: | 富士电机株式会社 |
主分类号: | G01D5/347 | 分类号: | G01D5/347 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 绝对位置信息 检测装置 刻度板 照射光 受光元件 位置信息处理 第二位置 第一位置 信号电平 发光部 错开 透射 反射 照射 图案 输出 | ||
1.一种绝对位置信息检测装置,包括:
刻度板,具有N比特的M序列用的绝对图案;
发光部,对所述刻度板照射照射光;
K个受光元件,接收从所述刻度板反射或透射的所述照射光,其中K≥N+1;以及
位置信息处理部,通过对基于接收到所述照射光的K个受光元件的输出而得到的K个信号电平值之中的、N个连续的第一组的值或由所述第一组的值表示的第一位置信息、与相对于所述第一组的值错开至少一个值以上的N个连续的第二组的值或由所述第二组的值表示的第二位置信息进行比较,取得绝对位置信息。
2.根据权利要求1所述的绝对位置信息检测装置,其中,所述绝对位置信息检测装置还包括
异常判定部,在由所述位置信息处理部对所述第一组的值或所述第一位置信息与所述第二组的值或所述第二位置信息进行比较的结果和预先规定的预定条件不同的情况下,判定为在所述绝对位置信息中存在异常。
3.根据权利要求1或2所述的绝对位置信息检测装置,其中,
所述位置信息处理部对所述第一位置信息与所述第二位置信息之差是否与预定值一致进行判定。
4.根据权利要求1或2所述的绝对位置信息检测装置,其中,
所述位置信息处理部对所述第一组的值和所述第二组的值是否为预定顺序进行判定。
5.一种绝对位置信息检测装置的控制方法,所述绝对位置信息检测装置包括:
刻度板,具有N比特的M序列用的绝对图案;
发光部,对所述刻度板照射照射光;以及
K个受光元件,接收从所述刻度板反射或透射的所述照射光,其中K≥N+1,其中,
通过对基于接收到所述照射光的K个受光元件的输出而得到的K个信号电平值之中的、N个连续的第一组的值或由所述第一组的值表示的第一位置信息、与相对于所述第一组的值错开至少一个值以上的N个连续的第二组的值或由所述第二组的值表示的第二位置信息进行比较,取得绝对位置信息。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士电机株式会社,未经富士电机株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910146894.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光电传感器及其制造方法
- 下一篇:反射式编码器