[发明专利]一种AEP内存Error Detection功能测试方法、系统、终端及存储介质在审

专利信息
申请号: 201910147434.7 申请日: 2019-02-27
公开(公告)号: CN109918254A 公开(公告)日: 2019-06-21
发明(设计)人: 梁恒勋 申请(专利权)人: 苏州浪潮智能科技有限公司
主分类号: G06F11/26 分类号: G06F11/26;G06F11/07
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人: 刘雪萍
地址: 215100 江苏省苏州市吴*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 错误信息 内存 存储介质 功能测试 测试 终端 功能测试结果 测试效率 人工操作 市场要求 校验 省时 省力
【权利要求书】:

1.一种AEP内存Error Detection功能测试方法,其特征在于,包括:

利用Intel XDP对所述AEP内存进行模拟注错并获取模拟错误信息;

查看BMC中的AEP错误信息;

通过校验模拟错误信息与BMC错误信息的一致性获取Error Detection功能测试结果。

2.根据权利要求1所述的AEP内存Error Detection功能测试方法,其特征在于,所述方法还包括:

控制测试服务器进入halt状态;

查看AEP识别检测信息并通过所述识别检测信息获取AEP在位情况;

对AEP进行Refresh操作。

3.根据权利要求1所述的AEP内存Error Detection功能测试方法,其特征在于,所述利用Intel XDP对AEP内存进行模拟注错并获取模拟错误信息包括:

获取AEP memory mode模式;

根据memory mode模式对AEP报错引发参数进行设置;

获取AEP内存报错信息数量;

设置AEP内存的错误模拟位置;

控制测试服务器进入正常运行状态。

4.根据权利要求1所述的AEP内存Error Detection功能测试方法,其特征在于,所述通过校验模拟错误信息与BMC错误信息的一致性获取Error Detection功能测试结果包括:

判断模拟错误信息与BMC错误信息是否一致:

是,则判定AEP内存Error Detection功能正常;

否,则判定AEP内存Error Detection功能异常。

5.一种AEP内存Error Detection功能测试系统,其特征在于,包括:

错误注入单元,配置用于利用Intel XDP对所述AEP内存进行模拟注错并获取模拟错误信息;

错误查看单元,配置用于查看BMC中的AEP错误信息;

结果获取单元,配置用于通过校验模拟错误信息与BMC错误信息的一致性获取ErrorDetection功能测试结果。

6.根据权利要求5所述的AEP内存Error Detection功能测试系统,其特征在于,所述系统还包括:

暂停切换模块,配置用于控制测试服务器进入halt状态;

信息查看模块,配置用于查看AEP识别检测信息并通过所述识别检测信息获取AEP在位情况;

内存唤醒模块,配置用于对AEP进行Refresh操作。

7.根据权利要求5所述的AEP内存Error Detection功能测试系统,其特征在于,所述错误注入单元包括:

模式获取模块,配置用于获取AEP memory mode模式;

报错设置模块,配置用于根据memory mode模式对AEP报错引发参数进行设置;

数量获取模块,配置用于获取AEP内存报错信息数量;

位置设置模块,配置用于设置AEP内存的错误模拟位置;

状态切换模块,配置用于控制测试服务器进入正常运行状态。

8.根据权利要求5所述的AEP内存Error Detection功能测试系统,其特征在于,所述结果获取单元包括:

一致判断模块,配置用于判断模拟错误信息与BMC错误信息是否一致;

正常判定模块,配置用于判定AEP内存Error Detection功能正常;

异常判定模块,配置用于判定AEP内存Error Detection功能异常。

9.一种终端,其特征在于,包括:

处理器;

用于存储处理器的执行指令的存储器;

其中,所述处理器被配置为执行权利要求1-4任一项所述的方法。

10.一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-4中任一项所述的方法。

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