[发明专利]一种AEP内存Error Detection功能测试方法、系统、终端及存储介质

说明书

本发明提供一种AEP内存Error Detection功能测试方法、系统、终端及存储介质，包括：利用Intel XDP对所述AEP内存进行模拟注错并获取模拟错误信息；查看BMC中的AEP错误信息；通过校验模拟错误信息与BMC错误信息的一致性获取Error Detection功能测试结果。本发明能够自动对AEP内存的Error Detection功能进行测试，测试严谨性符合市场要求，且测试方法简单，测试效率高，不依赖人工操作，省时省力。

技术领域

本发明属于服务器测试技术领域，具体涉及一种AEP内存Error Detection功能测试方法、系统、终端及存储介质。

背景技术

目前Intel开发了一款AEP内存，这款AEP内存容量大；功能多。目前此款AEP内存是可以当硬盘使用，可以用来做存储使用。目前很多大客户已经逐渐导入开发，比如：阿里、腾讯、百度等。

AEP内存的Error Detection功能能够及时对AEP内存出现的异常情况进行报错，将包含错误参数和错误发生位置的报错信息上报服务器BMC，便于操作人员及时发现和处理AEP内存的异常。若Error Detection功能无法正常使用，则会导致AEP内存报错延误，严重的可能导致AEP内存异常情况扩大化，甚至丢失重要数据。因此对Error Detection功能的检测是AEP性能检测的一项重要指标。

然而，由于AEP内存目前是处于开发阶段，针对AEP内存Error Detection这一功能还没有相关较完善的测试方法。基于此，本发明提供一种对Error Detection功能的检测方法。

发明内容

针对现有技术还没有相关较完善对Error Detection功能的测试方法，本发明提供一种AEP内存Error Detection功能测试方法、系统、终端及存储介质，以解决上述技术问题。

第一方面，本发明提供一种AEP内存Error Detection功能测试方法，包括：

利用Intel XDP对所述AEP内存进行模拟注错并获取模拟错误信息，包括：获取AEPmemory mode模式；根据memory mode模式对AEP报错引发参数进行设置；获取AEP内存报错信息数量；设置AEP内存的错误模拟位置；控制测试服务器进入正常运行状态；

查看BMC中的AEP错误信息；

通过校验模拟错误信息与BMC错误信息的一致性获取Error Detection功能测试结果，包括：判断模拟错误信息与BMC错误信息是否一致：是，则判定AEP内存ErrorDetection功能正常；否，则判定AEP内存Error Detection功能异常。

此外，方法还包括识别测试服务器的AEP内存，即：控制测试服务器进入halt状态；查看AEP识别检测信息并通过所述识别检测信息获取AEP在位情况；对AEP进行Refresh操作。

第二方面，本发明提供一种AEP内存Error Detection功能测试系统，包括：

错误注入单元，包括：模式获取模块，配置用于获取AEP memory mode模式；报错设置模块，配置用于根据memory mode模式对AEP报错引发参数进行设置；数量获取模块，配置用于获取AEP内存报错信息数量；位置设置模块，配置用于设置AEP内存的错误模拟位置；状态切换模块，配置用于控制测试服务器进入正常运行状态；

错误查看单元，配置用于查看BMC中的AEP错误信息；

结果获取单元，包括：一致判断模块，配置用于判断模拟错误信息与BMC错误信息是否一致；正常判定模块，配置用于判定AEP内存Error Detection功能正常；异常判定模块，配置用于判定AEP内存Error Detection功能异常。