[发明专利]一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法在审
| 申请号： | 201910147521.2 | 申请日： | 2019-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN109738472A | 公开（公告）日： | 2019-05-10 |
| 发明（设计）人： | 苏建平;郭晓明;乔文韬 | 申请（专利权）人： | 上海精谱科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N23/2202 |
| 代理公司： | 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 | 代理人： | 吕伴 |
| 地址： | 201806 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 硅溶胶液体 液体样品 轻元素 测试 工作曲线 熔样 标准样品 测试条件 传统观念 待测样品 高温熔融 固体样品 化学分析 浓度确定 浓度指标 质量确定 硅溶胶 脱模剂 标定 钠硅 熔剂 熔片 溶样 试验 转化 分析 | ||
1.一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤一：根据硅溶胶的液体样品的浓度确定样品与固体熔剂的比例；
步骤二：根据试验熔片的质量确定熔样温度及熔样时间，脱模剂的种类及数量后进行熔样处理，制得玻璃熔片；
步骤三：进一步确定X射线荧光测试条件后，采用已知化学分析的标准样品，按上述所确定的测试方法，进行测试，进行工作曲线标定，后将待测样品代入工作曲线后获得其浓度指标。
2.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，其特征在于，所述轻元素包括钠、镁、铝、硅中的任意一种或多种。
3.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，其特征在于，所述固体熔剂是四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂，按重量百分比计算，所述四硼酸锂和偏硼酸锂的比为66-68％：32-34％。
4.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，其特征在于，所述样品与固体熔剂的比例为0.9-1.1:1.1-0.9。
5.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，其特征在于，所述熔样温度为1000℃-1100℃，所述熔样时间为15-25分钟。
6.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，其特征在于，所述脱模剂的种类及数量为45-55％的碘化氨溶液8-12滴。
7.如权利要求1所述的一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，其特征在于，所述的X射线荧光测试条件为：管压：9-11kv,管流：500-700uA,真空环境，无滤光片，测试时间180-220秒。
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