[发明专利]一种基于低秩约束的PET时间校正方法有效
申请号: | 201910156259.8 | 申请日: | 2019-03-01 |
公开(公告)号: | CN109893154B | 公开(公告)日: | 2020-05-08 |
发明(设计)人: | 刘华锋;陈怀 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人: | 王琛 |
地址: | 310013 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 约束 pet 时间 校正 方法 | ||
1.一种基于低秩约束的PET时间校正方法,包括如下步骤:
(1)采集放射源为点源或旋转线源两种情况下PET探测系统所得到的符合事件,对于任一符合事件,记录探测器中探测到该事件的一对晶体的探测时间,进而解析出系统关于晶体对探测时差的FWHM图;
(2)建立PET探测系统的时间校正模型如下:
其中:x为晶体时间补偿向量,其维度为n,n为探测器中的晶体数量,x中每个元素值即对应各晶体的时间补偿值;b为晶体对探测时差向量,其维度为m,m为符合事件的数量,b中每个元素值即对应各符合事件的晶体对探测时间差;A为m×n大小的系统矩阵,||||2表示2范数;
(3)使上述时间校正模型加入低秩约束,得到PET时间校正的目标函数如下,进而对该目标函数进行优化求解得到晶体时间补偿向量x;
其中:X为晶体时间补偿矩阵,|| ||*表示核范数,μ为设定的权重系数;
(4)根据求得的晶体时间补偿向量x,对每一晶体的探测时间进行补偿,从而得到校正后的晶体对探测时差向量b,并将其以FWHM图的形式展示。
2.根据权利要求1所述的PET时间校正方法,其特征在于:所述系统矩阵A中的元素值为-1、0或1,且每一行即对应一个符合事件,每一列即对应一个晶体,一行中只有两个元素值分别为-1和1,其余元素值均为0,这两个元素值对应的晶体即为探测到符合事件的晶体对,其中探测时间在先的晶体对应元素值为1,探测时间在后的晶体对应元素值为-1。
3.根据权利要求1所述的PET时间校正方法,其特征在于:所述晶体时间补偿矩阵X的大小为k×p,k为探测器中的晶体阵列个数,p为单个晶体阵列中的晶体数量,由于n=k×p,故晶体时间补偿向量x中的元素值按k行p列的形式对应排布后即可得到晶体时间补偿矩阵X。
4.根据权利要求1所述的PET时间校正方法,其特征在于:所述步骤(3)中采用ADMM算法对目标函数进行优化求解得到晶体时间补偿向量x。
5.根据权利要求1所述的PET时间校正方法,其特征在于:所述的步骤(1)中利用放置于PET探测系统中心的点源或距离PET探测系统中心一定位置的旋转线源来获取符合事件。
6.根据权利要求1所述的PET时间校正方法,其特征在于:所述的步骤(1)中获取得到的符合事件包含有即时符合事件与延时符合事件,由于延时符合事件是已知噪声信息,因此需要将延时符合事件从即时符合事件集合当中去除。
7.根据权利要求1所述的PET时间校正方法,其特征在于:所述的步骤(1)中当放射源为旋转线源,在解析计算FWHM图时需加入位置补偿,使得结果能以单个半波宽的形式呈现。
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