[发明专利]用于系统级测试的可扩展平台在审
| 申请号： | 201910163802.7 | 申请日： | 2019-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN110232015A | 公开（公告）日： | 2019-09-13 |
| 发明（设计）人： | 罗兰·沃尔夫;梅-梅·苏;本·罗杰尔-法维拉 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 宗晓斌 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 系统级测试 基元 可扩展 设备接口板 形状因子 测试平台 功率分配 统一接口 用户配置 耦合到 配置 | ||
1.一种测试平台，包括：
多个设备接口板(DIB)；
多个基元，所述多个基元被配置为将功率分配给耦合到设备接口板(DIB)的被测设备(DUT)，并且执行对耦合到所述设备接口板(DIB)的所述被测设备(DUT)的用户可配置系统级测试；
一个或多个基元机架，所述一个或多个基元机架被配置为模块化地容纳所述多个基元；
主机控制器，所述主机控制器被配置为在所述多个基元上安装、配置和管理所述用户可配置系统级测试的性能；
背板，所述背板被配置为将所述主机控制器耦合到所述多个基元并将功率耦合到所述多个基元。
2.根据权利要求1所述的测试平台，其中，所述基元包括：
一个或多个切片模块，所述一个或多个切片模块被配置为执行对耦合到所述设备接口板(DIB)的所述被测设备(DUT)的用户可配置系统级功能测试；
一个或多个电源组件，所述一个或多个电源组件被配置为控制对耦合到设备接口板(DIB)的所述被测设备(DUT)的功率的分配；
负载板，所述负载板被配置为将所述多个设备接口板(DIB)耦合到一个或多个站点模块和所述一个或多个电源组件；以及
背板接口，所述背板接口被配置为将所述一个或多个站点模块和所述一个或多个电源组件耦合到所述背板。
3.根据权利要求1所述的测试系统，其中，模块化基元被配置为独立地控制对由所述设备接口板(DIB)耦合到所述模块化基元的所述被测设备(DUT)的测试。
4.根据权利要求1所述的测试系统，其中，所述主机控制器还被配置为协调多个模块化基元的操作。
5.根据权利要求1所述的测试系统，其中，模块化基元是独立的。
6.根据权利要求1所述的测试系统，其中，所述背板还被配置为将所述多个基元通信地耦合在一起。
7.根据权利要求1所述的测试系统，其中，所述基元包括基于现场可编程门阵列(FPGA)的测试电子设备，所述测试电子设备被配置为执行对耦合到所述设备接口板(DIB)的所述被测设备(DUT)的用户定义的系统级测试。
8.根据权利要求1所述的测试系统，其中，所述基元由在所述主机控制器上执行的软件配置。
9.根据权利要求1所述的测试系统，其中，对所述被测设备(DUT)的用户可配置系统级功能测试的测试流程和控制由所述基元控制。
10.根据权利要求1所述的测试系统，其中，响应于所述系统级测试的所述被测设备(DUT)的表征由所述基元执行。
11.根据权利要求1所述的测试系统，其中，响应于系统级功能测试的所述被测设备(DUT)的功率分布由所述基元执行。
12.根据权利要求1所述的测试系统，其中，所述多个基元的校准和诊断由在所述主机控制器上执行的控制软件执行。
13.根据权利要求1所述的测试系统，其中，在系统级测试期间所述被测设备(DUT)的环境条件由所述基元控制。
14.根据权利要求1所述的测试系统，还包括模块化自动化设备。
15.根据权利要求14所述的测试系统，其中，所述模块化自动化设备包括一个或多个机器人DUT处理器。
16.根据权利要求14所述的测试系统，其中，所述模块化自动化设备包括一个或多个被测设备(DUT)机架。
17.根据权利要求1所述的测试系统，其中，所述用户可配置系统级测试包括研究和开发周期测试。
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