[发明专利]用于系统级测试的可扩展平台在审
申请号: | 201910163802.7 | 申请日: | 2019-03-05 |
公开(公告)号: | CN110232015A | 公开(公告)日: | 2019-09-13 |
发明(设计)人: | 罗兰·沃尔夫;梅-梅·苏;本·罗杰尔-法维拉 | 申请(专利权)人: | 爱德万测试公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 宗晓斌 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 系统级测试 基元 可扩展 设备接口板 形状因子 测试平台 功率分配 统一接口 用户配置 耦合到 配置 | ||
本公开涉及用于系统级测试的可扩展平台。一种可扩展测试平台可以包括多个不同设备接口板和多个基元中的一个或多个。不同设备接口板可以被配置为提供统一接口以将不同类型的DUT和/或具有不同形状因子的DUT耦合到多个基元。该多个基元可以被配置为将功率分配给DUT,并执行相应DUT的系统级测试。该多个基元可以由用户配置,以对多个不同类型的DUT和/或具有不同形状因子的DUT执行任何数量的系统级测试。
技术领域
本公开一般地涉及用于系统级测试的可扩展平台。
背景技术
电子系统为现代社会的进步做出了重大贡献,并在许多应用中得到应用以实现有利结果。许多设备,例如,台式个人计算机(PC)、膝上型PC、平板PC、上网本、智能电话、服务器、及其组件,促进了在娱乐、教育、商业和科学的大多数领域中的通信和分析数据的生产率提高和成本降低。通常对这些电子系统和设备进行测试以确保正确操作。尽管系统和设备的测试已取得显著进步,但传统方法通常很昂贵并且通常在吞吐量和便利性方面具有限制。
传统测试系统通常是被固定定义的单点解决方案。传统系统通常不适合批量生产,因为:1)系统的建造和运行成本高;并且2)被测设备的物理操纵(例如,插入、移除等)是劳动密集型的。此外,测试系统不易适应用户变化的需求以测试具有不同形状因子的不同类型的DUT。因此,持续地需求改进的测试系统,其易于适应用户变化的需求以测试具有不同形状因子的不同类型的DUT。
发明内容
通过参考以下描述和附图可以最好地理解本技术,这些描述和附图用于说明针对用于系统级测试的可扩展平台的本技术的实施例。
在各方面,模块化测试系统可以包括多个基元,其可以提供对DUT的系统级测试、与DUT的自主测试处理的集成、在测试期间对DUT的热控制、以及调试使系统级测试失效的DUT。通过从测试系统添加或移除基元,基元可以有利地提供可扩展测试系统。
在各方面,提供测试平台可以包括提供来自多个不同类型的设备接口板的多个设备接口板。不同类型的设备接口板可以被配置用于将被测设备(DUT)的相应类型或形状因子耦合到多个基元。还可以提供配置为将功率分配给耦合到多个设备接口板的被测设备(DUT)并且独立地执行耦合到设备接口板的DUT的用户可配置系统级测试的基元。
提供测试平台还可以包括提供容纳模块化基元的基元机架、用于配置基元的主机控制器、用于基元的自动化测试的模块化自动化组件、模块化环境控制、用于确定未通过系统级测试的DUT的故障位置信息、及其组合。
在各方面,分布式测试平台可以包括多个用户可选择设备接口板和多个模块化基元。不同类型的设备接口板可以被配置为将相应类型或形状因子的DUT耦合到模块化基元。基元可以被配置为独立地执行由设备接口板耦合到模块化基元的DUT的用户可配置系统级功能测试。该平台还可以包括机器人组件、环境组件和调试组件,其可以与基元和设备接口板混合和匹配以实现可扩展测试系统,该可扩展测试系统可用于测试各种类型的电子设备以及不同形状因子的电子设备。模块化测试系统可以被容易地配置和重新配置以适应从用户到用户的变化和不同的需求。
提供本发明内容是为了以简化形式介绍一些概念,这些概念将在下面的具体实施方式中进一步描述。本发明内容不旨在标识所要求保护的主题的关键特征或必要特征,也不旨在用于限制所要求保护的主题的范围。
附图说明
在附图中的图示中通过示例而非限制的方式示出了本技术的实施例,并且其中,相同的附图标记指代类似的元件,并且其中:
图1示出了根据本技术的各方面的测试平台的框图。
图2示出了根据本技术的各方面的基元和相应的设备接口板的框图。
图3示出了根据本技术的各方面的基元和相应的设备接口板的框图。
图4示出了根据本技术的各方面的测试平台的框图。
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