[发明专利]含硼掺杂剂浆料及其应用在审
申请号: | 201910170214.6 | 申请日: | 2019-03-07 |
公开(公告)号: | CN109860032A | 公开(公告)日: | 2019-06-07 |
发明(设计)人: | 杨立功;邓舜;奚琦鹏;袁丽娟;潘琦 | 申请(专利权)人: | 常州时创能源科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/22 | 分类号: | H01L21/22;C30B31/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 213300 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 含硼掺杂剂 重量份 浆料 硼掺杂 硅片 有机季铵盐 有机硼酸酯 电学性能 二羟基胺 硅片表面 晶体结构 丝网印刷 多元醇 晶体硅 扩散炉 硼扩散 热能耗 衬底 喷涂 扩散 损害 应用 | ||
本发明提供一种含硼掺杂剂浆料,其含有:有机硼酸酯5~70重量份,多元醇15~50重量份,二羟基胺10~40重量份,以及有机季铵盐0.1~2.5重量份。本发明还提供一种硅片硼掺杂方法,包括如下步骤:1)在硅片表面喷涂或丝网印刷上述的含硼掺杂剂浆料;2)将经过步骤1)处理后的硅片置于扩散炉中进行硼扩散,扩散温度为700~850℃。本发明的含硼掺杂剂浆料可实现低温硼掺杂,可以显著降低热能耗,减少晶体硅衬底的晶体结构和电学性能的损害。
技术领域
本发明涉及含硼掺杂剂浆料及其应用。
背景技术
目前在晶硅表面进行硼掺杂,仍然主要采用的是气相沉积和扩散工艺。该方法一般以BBr3为硼源,BBr3分子在扩散炉管中与O2进行氧化反应生成B2O3,然后在高温下B2O3会与Si进行氧化还原反应生成硼和SiO2,硼在高温下被扩散进入晶体硅中,最终形成扩散结。如果晶硅是p型的,形成的是硼高低结;如果晶硅是n型的,就形成PN结。几乎整个气相沉积和扩散过程都需要在900℃以上的高温环境下进行,特别是扩散阶段,一般需要在扩散炉内持续超过1小时950℃~1000℃的高温才能达到所需的硼扩散分布。整个过程不仅费时、高能耗,而且长时间的高温热处理晶硅片,对硅片的晶格性能、少子寿命都有损害。
硼扩散之所以需要如此高的温度,是由于需要达到一定温度后,硼才能克服氧化硅/ 硅的界面势垒进入硅衬底中。同时,硼在硅中的扩散系数也随着温度的升高而逐渐升高,硼原子获得足够能量向硅衬底深处扩散。从微观上说,硼越过氧化硅/硅的势垒过程,是个反应过程,这个过程需要大量的能量,宏观上表现为需要高温。经典理论认为硼扩散进入晶硅的过程要经过如下反应:B2O3+Si→SiO2+B。氧化硼在此全固相反应中充当氧化剂,需要高温辅助才能把硅氧化。但需要注意的是,该反应是氧化硼在晶硅表面局部的微观反应,反应环境和条件是可以改变的。通过引入其它化学基团,在进入高温前就削弱甚至破坏晶硅表层的共价键结合能,让硅的氧化反应所需能量降低,就可以使反应所需温度降低,从而整体上使硼掺杂温度降低。这个思路与硼浆料结合,就能够为半导体行业,特别是光伏行业突破扩硼必须高温这一界限开辟一个崭新的方向。
最近几年,作为扩散硼源的硼浆料由于其沉积步骤简单、成本低以及适合局部掺杂等而得到发展迅速。专利CN103500774A提出了利用P型硅球作为硼源制备局部背场的方法。但有两个问题不能回避:一是硅球制备成本高,尤其是专利中提到的纳米级硅球,非常昂贵;二是依据该专利所述,硅球的硼掺杂依靠硅球连同包含的硼一起进入硅衬底从而完成的,但这一过程需要更高的温度,靠普通热扩散是无法实现的,必须结合激光掺杂局部高温的扩散方式。专利CN103059666A给出了一种用于硼扩散的涂布液,也是只适用于传统高温硼掺杂工艺。
发明内容
本发明的目的在于提供一种含硼掺杂剂浆料及其应用,该含硼掺杂剂浆料可于700℃进行硼扩散,可以显著降低热能耗,减少晶体硅衬底的晶体结构和电学性能的损害。
为实现上述目的,本发明提供一种含硼掺杂剂浆料,其含有:
有机硼酸酯 5~70重量份,
多元醇 15~50重量份,
二羟基胺 10~40重量份,
以及有机季铵盐 0.1~2.5重量份。
优选的,所述有机硼酸酯具有如式(I)的通式:
其中,R1、R2和R3分别独立地为H,或碳数1~8的烷基。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于常州时创能源科技有限公司,未经常州时创能源科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910170214.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造