[发明专利]含硼掺杂剂浆料及其应用在审

专利信息
申请号: 201910170214.6 申请日: 2019-03-07
公开(公告)号: CN109860032A 公开(公告)日: 2019-06-07
发明(设计)人: 杨立功;邓舜;奚琦鹏;袁丽娟;潘琦 申请(专利权)人: 常州时创能源科技有限公司
主分类号: H01L21/22 分类号: H01L21/22;C30B31/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 213300 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 含硼掺杂剂 重量份 浆料 硼掺杂 硅片 有机季铵盐 有机硼酸酯 电学性能 二羟基胺 硅片表面 晶体结构 丝网印刷 多元醇 晶体硅 扩散炉 硼扩散 热能耗 衬底 喷涂 扩散 损害 应用
【说明书】:

本发明提供一种含硼掺杂剂浆料,其含有:有机硼酸酯5~70重量份,多元醇15~50重量份,二羟基胺10~40重量份,以及有机季铵盐0.1~2.5重量份。本发明还提供一种硅片硼掺杂方法,包括如下步骤:1)在硅片表面喷涂或丝网印刷上述的含硼掺杂剂浆料;2)将经过步骤1)处理后的硅片置于扩散炉中进行硼扩散,扩散温度为700~850℃。本发明的含硼掺杂剂浆料可实现低温硼掺杂,可以显著降低热能耗,减少晶体硅衬底的晶体结构和电学性能的损害。

技术领域

本发明涉及含硼掺杂剂浆料及其应用。

背景技术

目前在晶硅表面进行硼掺杂,仍然主要采用的是气相沉积和扩散工艺。该方法一般以BBr3为硼源,BBr3分子在扩散炉管中与O2进行氧化反应生成B2O3,然后在高温下B2O3会与Si进行氧化还原反应生成硼和SiO2,硼在高温下被扩散进入晶体硅中,最终形成扩散结。如果晶硅是p型的,形成的是硼高低结;如果晶硅是n型的,就形成PN结。几乎整个气相沉积和扩散过程都需要在900℃以上的高温环境下进行,特别是扩散阶段,一般需要在扩散炉内持续超过1小时950℃~1000℃的高温才能达到所需的硼扩散分布。整个过程不仅费时、高能耗,而且长时间的高温热处理晶硅片,对硅片的晶格性能、少子寿命都有损害。

硼扩散之所以需要如此高的温度,是由于需要达到一定温度后,硼才能克服氧化硅/ 硅的界面势垒进入硅衬底中。同时,硼在硅中的扩散系数也随着温度的升高而逐渐升高,硼原子获得足够能量向硅衬底深处扩散。从微观上说,硼越过氧化硅/硅的势垒过程,是个反应过程,这个过程需要大量的能量,宏观上表现为需要高温。经典理论认为硼扩散进入晶硅的过程要经过如下反应:B2O3+Si→SiO2+B。氧化硼在此全固相反应中充当氧化剂,需要高温辅助才能把硅氧化。但需要注意的是,该反应是氧化硼在晶硅表面局部的微观反应,反应环境和条件是可以改变的。通过引入其它化学基团,在进入高温前就削弱甚至破坏晶硅表层的共价键结合能,让硅的氧化反应所需能量降低,就可以使反应所需温度降低,从而整体上使硼掺杂温度降低。这个思路与硼浆料结合,就能够为半导体行业,特别是光伏行业突破扩硼必须高温这一界限开辟一个崭新的方向。

最近几年,作为扩散硼源的硼浆料由于其沉积步骤简单、成本低以及适合局部掺杂等而得到发展迅速。专利CN103500774A提出了利用P型硅球作为硼源制备局部背场的方法。但有两个问题不能回避:一是硅球制备成本高,尤其是专利中提到的纳米级硅球,非常昂贵;二是依据该专利所述,硅球的硼掺杂依靠硅球连同包含的硼一起进入硅衬底从而完成的,但这一过程需要更高的温度,靠普通热扩散是无法实现的,必须结合激光掺杂局部高温的扩散方式。专利CN103059666A给出了一种用于硼扩散的涂布液,也是只适用于传统高温硼掺杂工艺。

发明内容

本发明的目的在于提供一种含硼掺杂剂浆料及其应用,该含硼掺杂剂浆料可于700℃进行硼扩散,可以显著降低热能耗,减少晶体硅衬底的晶体结构和电学性能的损害。

为实现上述目的,本发明提供一种含硼掺杂剂浆料,其含有:

有机硼酸酯 5~70重量份,

多元醇 15~50重量份,

二羟基胺 10~40重量份,

以及有机季铵盐 0.1~2.5重量份。

优选的,所述有机硼酸酯具有如式(I)的通式:

其中,R1、R2和R3分别独立地为H,或碳数1~8的烷基。

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