[发明专利]一种均相化学发光检测方法及其应用

权利要求书

1.一种均相化学发光检测方法，其包括如下步骤：

步骤S1，将包含化学发光配对微球中的第一微球及疑似包含待测目标分子的待测物的液相反应物与固相支持物表面接触反应，其中所述固相支持物表面设置有化学发光配对微球中对应的第二微球；

步骤S2，利用能量或活性化合物激发化学发光配对微球中的一种微球生成活性氧，化学发光配对微球中的另一种微球与其接触到的活性氧反应产生化学发光信号；

步骤S3，检测步骤S2中所述化学发光信号的强度，分析待测物中是否存在待测目标分子和/或待测目标分子的浓度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二微球为供体微球。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一微球为受体微球。

4.根据权利要求1～3中任意一项所述的方法，其特征在于，所述固相支持物选自玻璃芯片、石英芯片、塑料芯片、高分子聚合物芯片、高分子微球、磁性微球、微孔板、NC膜和PDVF膜。

5.根据权利要求1～4中任意一项所述的方法，其特征在于，所述第二微球呈阵列式分布于固相支持物表面的不同区域。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第二微球与磁性微球连接，所述磁性微球通过磁场固定在固相支持物的表面。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第二微球通过其表面修饰的分子与固相支持物表面修饰的化学基团的化学键作用固定在固相支持物的表面；优选地，所述化学键选自离子键、共价键、金属键和配位键；进一步优选为共价键。

8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第二微球通过其表面修饰的分子与固相支持物表面修饰的分子之间的分子间作用力固定在固相支持物的表面；优选地，所述分子间的作用力选自氢键、范德华力、离子键、疏水作用力、芳环堆积作用和卤键；进一步优选为氢键。

9.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述固相支持物表面阵列分布4-200个反应孔。

10.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述固相支持物表面阵列分布4-200个微孔，每个微孔中设置至少1个反应孔。

11.根据权利要求9或10所述的方法，其特征在于，所述反应孔的直径小于第二微球的粒径。

12.根据权利要求9～11中任意一项所述的方法，其特征在于，所述第二微球凹陷在所述反应孔中。

13.根据权利要求1～12中任意一项所述的方法，其特征在于，所述第一微球和/或第二微球表面包被有葡聚糖，所述葡聚糖表面修饰有化学基团，所述化学基团选自醛基、羧基、巯基、氨基和羟基。

14.根据权利要求1～13中任意一项所述的方法，其特征在于，所述固相支持物表面还设置有一个定位基准点。

15.根据权利要求1～14中任意一项所述的方法，其特征在于，所述第二微球表面直接或间接连接有第一特异结合物，所述第一特异性结合物能够与待测目标分子特异性结合。

16.根据权利要求15所述的方法，其特征在于，在步骤S1之前，首先将固相支持物与第一特异结合物接触反应，通过特异性配对物的相互作用将第一特异结合物连接至所述第二微球的表面。