[发明专利]光学玻璃应力检测系统及检测方法

说明书

本发明提供一种光学玻璃应力检测系统及检测方法，包括光源，所述光源为单色光源；第一线偏元件，所述第一线偏元件的偏振方向与水平面相垂直；可变相位延迟器，所述可变相位延迟器的快轴方向与水平面夹角为45°；第二线偏元件，所述第二线偏元件的偏振方向与水平面平行；探测元件；所述第一线偏元件、所述可变相位延迟器、所述第二线偏元件和所述探测元件沿所述光源光线传播方向依次设置，待测样品放置于所述第一线偏元件与所述可变相位延迟器之间。本发明消除旋转误差，提高了相位延迟的测量精度，进而提高了光学玻璃应力检测的精度；同时简化了现有技术中光学玻璃应力检测系统的结构，降低了对光学元件的要求，从而降低了成本。

技术领域

本发明属于光学检测领域，尤其涉及一种光学玻璃应力检测系统及检测方法。

背景技术

在光学玻璃的生产过程中，由于材料原因或者生产工艺等会使玻璃结构发生形变，从而在应力的作用下产生双折射，即应力双折射。因此通过检测由于产生双折射而出现的相位延迟的量，即可检测该光学玻璃的应力。

现有技术中通常使用1/4波片法对玻璃的相位延迟进行检测。参考附图1，该测量系统包括起偏器1'、待测样品2'、1/4波片3'和检偏器4'。光源的光先通过起偏器变成线偏振光，在通过待测样品变成椭圆偏振光，然后通过1/4波片，只要椭圆偏振光的长短轴分别与1/4波片的快慢轴平行，从1/4波片出射的光将是线偏振光，此时通过检偏器的旋转就可以测量待测样品的相位延迟量。

但是由于使用1/4波片法测试时，需要旋转测量系统内的元件，在旋转的过程中会带来误差，降低了对相位延迟的测量精度。

发明内容

针对现有技术中1/4波片法由于存在旋转误差从而降低相位延迟测量精度的技术问题，本发明提供了一种光学玻璃应力检测系统及检测方法，消除旋转误差，提高了相位延迟的测量精度，进而提高了光学玻璃应力检测的精度；同时简化了现有技术中光学玻璃应力检测系统的结构，降低了对光学元件的要求，从而降低了成本。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

一种光学玻璃应力检测系统，包括：

光源，所述光源为单色光源；

第一线偏元件，所述第一线偏元件的偏振方向与水平面相垂直；

可变相位延迟器，所述可变相位延迟器的快轴方向与水平面夹角为45°；

第二线偏元件，所述第二线偏元件的偏振方向与水平面平行；

探测元件；

所述第一线偏元件、所述可变相位延迟器、所述第二线偏元件和所述探测元件沿所述光源光线传播方向依次设置，待测样品放置于所述第一线偏元件与所述可变相位延迟器之间。

进一步，还包括准直光学系统，所述准直光学系统设置于所述光源与所述第一线偏元件之间。

进一步，还包括成像光学系统，所述光学成像系统设置于所述待测样品与所述可变相位延迟器之间。

本发明还提供一种光学玻璃应力检测方法，使用上述任一项的光学玻璃应力检测系统，包括：

将待测样品放置于所述第一线偏元件与所述可变相位延迟器之间；

调整所述可变相位延迟器，使所述可变相位延迟器的相位延迟量为360°，通过所述探测元件测得第一光强；

调整所述可变相位延迟器，使所述可变相位延迟器的相位延迟量为180°，通过所述探测元件测得第二光强；

调整所述可变相位延迟器，使所述可变相位延迟器的相位延迟量为90°，通过所述探测元件测得第三光强；