[发明专利]一种集成电路测试设备实时温度监控系统及方法

权利要求书

1.一种集成电路测试设备实时温度监控系统，其特征在于：包括主机端和测试端，测试端包括若干检测集成电路测试设备内部温度的温度检测单元和温度解析单元，温度检测单元分别与温度解析单元连接，温度解析单元与主机端连接；

主机端：实时读取温度数据，在温度值高于预警阈值时，进行报警，在温度值高于停测阈值时，进行报警并停止当前测试。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试设备实时温度监控系统，其特征是所述温度检测单元为热敏电阻，热敏电阻包括四路，每路热敏电阻分别与温度解析单元相连。

3.根据权利要求1或2所述的一种集成电路测试设备实时温度监控系统，其特征是所述主机端获取各温度检测单元的温度值，将各温度值进行相差，将每个温度值与其他温度值的相差值分别和温差阈值进行比较，判断是否存在异常温度值，存在异常温度值时剔除异常的温度值，根据剩余正常的温度值计算出当前集成电路测试设备内部温度值。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试设备实时温度监控系统，其特征是所述主机端在检测到异常温度值后，对异常的温度检测单元进行监控，在后续的检测过程中若该异常的温度检测单元的温度值连续或多次出现异常，则进行报警并提醒温度检测单元异常或故障。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试设备实时温度监控系统，其特征是主机端在停止当前测试后，不允许测试的再次启动，直到温度值低于停测阈值，则继续进行测试。

6.一种集成电路测试设备实时温度监控方法，采用权利要求1-5任一项中的系统，其特征是：包括以下步骤：

S1.设备上电，初始化温度监控系统；

S2.获取各温度值，计算出当前温度值；

S3.对当前温度值进行判断，在温度值高于预警阈值时，进行报警，在温度值高于停测阈值时，进行报警并停止当前测试。

7.根据权利要求6所述的一种集成电路测试设备实时温度监控方法，其特征是所述步骤S1中的初始化过程包括：判断系统初始化是否成功，若否进行报警，不允许测试，若是开始测试并进入步骤S2。

8.根据权利要求6所述的一种集成电路测试设备实时温度监控方法，其特征是所述步骤S3的具体过程包括：

S31.判断温度值是否高于停测阈值，若是进行报警并停止当前测试，返回步骤S2，若否进入下一步骤；

S32.恢复测试；

S33.判断温度值是否高于预警阈值，若是进行报警不停止测试，返回步骤S2，若否进入下一步骤；

S34.清除报警信息，继续进行测试，返回步骤S2。

9.根据权利要求6所述的一种集成电路测试设备实时温度监控方法，其特征是所述步骤S2中计算当前温度值的过程包括：

S201.分别计算各温度值与其他温度值的差值；

S202.判断一个温度值与其他温度值的差值是否都大于设定的温差阈值，若是该温度值为异常温度值，进行剔除；

S203.依次对各温度值进行步骤S22的判断，获得剩余的温度值为正常温度值；

S204.对正常温度值进行均值计算，得到的平均值作为当前温度值。

10.根据权利要求9所述的一种集成电路测试设备实时温度监控方法，其特征是在检测到异常温度值时还包括设备故障判断步骤：

S211.对出现异常温度值的温度检测单元进行监控，记录后续每次当前温度值计算过程中该温度检测单元检测的温度值的情况；

S212.判断是否连续3次计算过程中该温度检测单元检测的温度值都为异常温度值，若是发出设备故障需要进行更换提醒，若否进入下一步骤；

S213.判断是否记录5次该温度检测单元的检测的温度值，若否返回步骤S211，若是进入下一步骤；

S214.判断在连续5次计算过程中该温度检测单元检测的温度值为异常温度值的次数是否大于2次，若是发出设备故障需要进行更换提醒，若否发出设备异常需要进行维护提醒。