[发明专利]一种集成电路测试设备实时温度监控系统及方法

说明书

本发明涉及一种集成电路测试设备实时温度监控系统及方法。解决现有技术中过高温度影响测试设备的稳定性和精度，导致测试产生偏差，造成严重后果的问题。系统包括主机端和测试端，测试端包括若干温度检测单元和温度解析单元，温度检测单元分别与温度解析单元连接，温度解析单元与主机端连接。主机端实时读取温度数据，在温度值高于预警阈值时，进行报警，在温度值高于停测阈值时，进行报警并停止当前测试。本发明能够监控集成电路测试设备内部温度，同时能够在温度过高情况下进行报警，并可以强制停止测试，克服了因测试设备内部散热不及时，测试设备内部温度过高，导致测试设备的测试稳定性下降与测试精度产生偏移的问题。

技术领域

本发明涉及测试仪器技术领域，尤其是涉及一种集成电路测试设备实时温度监控系统及方法。

背景技术

当前各行业越来越重视产品的制造、测试、存储等环节，如药材、食品、半导体等，为了控制产品各个环节的质量，就需要严格的控制温度，因此实施的温度监控系统，保存严格的温度数据都成为一种行业规范

在集成电路测试领域，温度监测与控制的作用非常大，过高的温度会严重影响电子器件的温度特性，进而影响测试设备的稳定性和精度，导致测试产生偏差，造成严重的后果；而且长期处于高温下工作的测试设备，其使用寿命会大大缩减。

发明内容

本发明主要是解决现有技术中过高温度影响测试设备的稳定性和精度，导致测试产生偏差，造成严重后果的问题，提供了一种集成电路测试设备实时温度监控系统及方法。

本发明的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：一种集成电路测试设备实时温度监控系统，包括主机端和测试端，测试端包括若干检测集成电路测试设备内部温度的温度检测单元和温度解析单元，温度检测单元分别与温度解析单元连接，温度解析单元与主机端连接；

主机端：实时读取温度数据，在温度值高于预警阈值时，进行报警，在温度值高于停测阈值时，进行报警并停止当前测试。本发明能够监控集成电路测试设备内部温度，同时能够在温度过高情况下进行报警，并可以强制停止测试，克服了因测试设备内部散热不及时，测试设备内部温度过高，导致测试设备的测试稳定性下降与测试精度产生偏移的问题。温度解析单元用于读取温度检测单元检测到的数据，将数据转换成温度数值发送给主机端，温度解析单元与主机端之间通过数据线连接，可以采用RS485转USB通信线。

作为一种优选方案，所述温度检测单元为热敏电阻，热敏电阻包括四路，每路热敏电阻分别与温度解析单元相连。本方案采用热敏电阻来采集电路测试设备内温度数据，温度解析单元获取热敏电阻上的数据，将热敏电阻的电阻变化转换成电压电流信号，并通过热敏电阻的电压电流温度特性曲线，将电压电路信号转换成温度测试值。热敏电阻采用三线制的PT100，使得检测更加精确、灵敏、热响应速度快，使用寿命更长。

作为一种优选方案，所述主机端获取各温度检测单元的温度值，将各温度值进行相差，将每个温度值与其他温度值的相差值分别和温差阈值进行比较，判断是否存在异常温度值，存在异常温度值时剔除异常的温度值，根据剩余正常的温度值计算出当前集成电路测试设备内部温度值。本方案主机端对多路温度检测单元检测的温度值进行异常判断，若存在异常温度数据，则剔除异常的温度值，这样使得计算出的当前集成电路测试设备内部温度值更加准确。这里的当前集成电路测试设备内部温度值指在某时刻采集的多个温度值，根据该时刻的多个温度值计算出的最终温度值。温度检测单元都是间隔一段时间进行一次数据采集。

作为一种优选方案，所述主机端在检测到异常温度值后，对异常的温度检测单元进行监控，在后续的检测过程中若该异常的温度检测单元的温度值连续或多次出现异常，则进行报警并提醒温度检测单元异常或故障。本方案中主机端能够对出现异常的温度检测单元进行监控，通过后续多次检测过程，判断温度检测单元是否出现异常还是出现故障，及时进行报警和提醒，使得操作人员能够及时了解温度检测单元异常情况并及时进行维护，以避免影响温度检测的准确度。