[发明专利]光扫描装置以及具备该光扫描装置的图像形成装置

权利要求书

1.一种光扫描装置，通过针对感光体的曝光扫描在所述感光体上形成图像，其特征在于，具备：

多个发光元件，放出与供给的电流量对应的光量；

光源光学系统，包括使从各发光元件放出的光单独地透射的与所述多个发光元件相同的数量的光学元件，对来自各发光元件的光进行整形；

多面镜，使由所述光源光学系统整形后的光周期性地偏转；

成像光学系统，使利用所述多面镜得到的偏转光在所述感光体的表面成像；

马达，使所述多面镜旋转；

散热路径，用于向所述多面镜和所述马达的周围导入外部气体而从所述多面镜及所述马达夺热；以及

光源控制部，控制各发光元件的电流量，

所述光源控制部包括：

温度监视部，监视与来自所述多面镜、所述马达或者所述散热路径的热传递相伴的所述光源光学系统的光学元件的温度；以及

温差调节部，以使各发光元件与来自该发光元件的光透射的所述光源光学系统的光学元件之间的温差收敛于容许范围内的方式，调节各发光元件的电流量或者各光学元件的温度。

2.根据权利要求1所述的光扫描装置，其特征在于，

所述光源控制部在各发光元件应发光的期间对该发光元件供给利用图像数据调制后的电流，在各发光元件不应发光的期间对该发光元件供给比能发光的下限少的量的偏置电流，

各发光元件与来自该发光元件的光透射的所述光源光学系统的光学元件之间的温差越大，则所述温差调节部将应被供给到该发光元件的偏置电流量设定得越小。

3.根据权利要求2所述的光扫描装置，其特征在于，

各发光元件是半导体激光器，

根据该半导体激光器的阈值电流，选择偏置电流量。

4.根据权利要求2或者3所述的光扫描装置，其特征在于，

所述光源控制部能够按照每个发光元件调节偏置电流量，

所述温差调节部根据各发光元件与来自该发光元件的光透射的所述光源光学系统的光学元件之间的温差，按照每个发光元件设定偏置电流量。

5.根据权利要求2或者3所述的光扫描装置，其特征在于，

所述光源控制部针对越是偏置电流量小的发光元件越延长连续发光时间。

6.根据权利要求2或者3所述的光扫描装置，其特征在于，

所述光源控制部使针对各发光元件将偏置电流量抑制得小的期间限于该发光元件不应发光的期间的一部分。

7.根据权利要求1所述的光扫描装置，其特征在于，

所述光扫描装置还具备风扇，该风扇用于对所述光源光学系统的光学元件进行气冷或者在所述散热路径中引起气流而使热从所述多面镜和所述马达散走，

所述温差调节部根据各发光元件与来自该发光元件的光透射的所述光源光学系统的光学元件之间的温差，调节所述风扇的转速。

8.根据权利要求7所述的光扫描装置，其特征在于，

各发光元件与来自该发光元件的光透射的所述光源光学系统的光学元件之间的温差越小，则所述温差调节部将所述风扇的转速设定得越高。

9.根据权利要求1至3中的任意一项所述的光扫描装置，其特征在于，

所述光源光学系统的光学元件是能够通过与自身的温度变动相伴的光学特性的变化而抵消使光向该光学元件入射的发光元件的温度变动所引起的散焦的衍射光学元件。

10.根据权利要求1至3中的任意一项所述的光扫描装置，其特征在于，

所述光源光学系统的光学元件是准直透镜。

11.根据权利要求1至3中的任意一项所述的光扫描装置，其特征在于，

所述温度监视部实际测量所述多面镜、所述马达或者所述散热路径的温度，根据该温度的实际测量值和相对所述多面镜、所述马达或者所述散热路径的所述光源光学系统的各光学元件的位置，推测该光学元件的温度。