[发明专利]一种铸件缺陷沿厚度方向的尺寸的测定方法

权利要求书

1.一种铸件缺陷沿厚度方向的尺寸的测定方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1.对被测铸件和标准试块进行透照，获得被测铸件底片和标准试块底片；

步骤2.根据步骤1获得的被测铸件底片、标准试块底片获取所述标准试块的黑度值、被测铸件的黑度值，所述标准试块的黑度值对应所述标准试块相应位置的厚度；

步骤3.将所述标准试块的黑度值与被测铸件的黑度值进行对比，根据所述标准试块各部位厚度与黑度值的对应关系确定所述被测铸件的缺陷沿厚度方向的尺寸。

2.根据权利要求1所述的一种铸件缺陷沿厚度方向的尺寸的测定方法，其特征在于，所述步骤2中被测铸件底片的黑度值包括被测铸件底片缺陷位置的黑度值和被测铸件底片缺陷位置相邻的无缺陷位置的黑度值。

3.根据权利要求2所述的一种铸件缺陷沿厚度方向的尺寸的测定方法，其特征在于，所述步骤3中通过对比确定与被测铸件的缺陷处黑度值相同的标准试块的黑度值所对应的厚度，对比确定与被测铸件的缺陷位置相邻的无缺陷处黑度值相同的标准试块的黑度值所对应的厚度，计算标准试块的这两个厚度的差值即为铸件缺陷沿厚度方向尺寸。

4.根据权利要求1所述的一种铸件缺陷沿厚度方向的尺寸的测定方法，其特征在于，所述步骤2中通过黑白密度计获取黑度值。

5.根据权利要求3所述的一种铸件缺陷沿厚度方向的尺寸的测定方法，其特征在于，所述步骤1的标准试块包括阶梯状铸件试块、平板试块和万能试块。

6.根据权利要求5所述的一种铸件缺陷沿厚度方向的尺寸的测定方法，其特征在于，直接对被测铸件和阶梯状铸件试块进行透照，获得被测铸件底片和阶梯状铸件试块底片。

7.根据权利要求5所述的一种铸件缺陷沿厚度方向的尺寸的测定方法，其特征在于，将阶梯状铸件试块和平板试块叠加后，对被测铸件和阶梯状铸件试块与平板试块叠加后的试块进行透照，获得被测铸件底片和阶梯状铸件试块与平板试块叠加后的试块底片。

8.根据权利要求5所述的一种铸件缺陷沿厚度方向的尺寸的测定方法，其特征在于，直接对被测铸件和万能试块进行透照，获得被测铸件底片和万能试块底片。

9.根据权利要求5所述的一种铸件缺陷沿厚度方向的尺寸的测定方法，其特征在于，所述阶梯状铸件试块和平板试块的长度和宽度相等，所述阶梯状铸件试块设置有阶梯10个。

10.根据权利要求5所述的一种铸件缺陷沿厚度方向的尺寸的测定方法，其特征在于，所述万能试块为阶梯状，万能试块的底部大平面上，与每个阶梯中心相对应的位置分别开设有横槽，横槽的宽度为20mm，每个横槽的深度连续变化，且每个横槽两端的深度差为6mm，每个横槽的最浅深度均为2mm。