[发明专利]堆叠式存储器装置及其操作方法、存储器系统

权利要求书

1.一种堆叠式存储器装置，包括：

缓冲器裸片，被配置为与至少一个外部装置通信，缓冲器裸片包括测试电路；

多个存储器裸片，堆叠在缓冲器裸片上，所述多个存储器裸片中的每个包括存储器单元阵列，存储器单元阵列包括结合到多条字线和多条位线的多个动态存储器单元；

多个硅通孔，延伸通过所述多个存储器裸片并连接到缓冲器裸片，

其中，在所述堆叠式存储器装置的测试模式期间，测试电路被配置为：

对与所述多个存储器裸片中的至少一个存储器裸片相应的目标存储器裸片的动态存储器单元执行测试，所述测试用于检测目标存储器裸片的至少一个缺陷单元，

将包括通过所述测试检测到的所述至少一个缺陷单元的存储器单元行的地址作为故障地址信息存储在所述多个存储器裸片中的其他存储器裸片的至少一个列解码器中，所述其他存储器裸片不是目标存储器裸片。

2.根据权利要求1所述的堆叠式存储器装置，其中，所述多个存储器裸片中的每个存储器裸片还包括：

行解码器，通过所述多条字线结合到存储器单元阵列；

列解码器，通过所述多条位线结合到存储器单元阵列。

3.根据权利要求2所述的堆叠式存储器装置，其中，

所述多个存储器裸片中的每个存储器裸片中的列解码器被配置为：在存储器裸片的正常模式期间，存储与存储器单元阵列的修复操作相关联的反熔丝信息；

所述多个存储器裸片中的其他存储器裸片的至少一个列解码器被配置为：在测试模式期间存储故障地址信息。

4.根据权利要求3所述的堆叠式存储器装置，其中，所述至少一个列解码器被配置为：在测试模式期间存储多个比特的故障地址信息。

5.根据权利要求3所述的堆叠式存储器装置，其中，在测试模式期间，测试电路被配置为：

将测试模式数据写入目标存储器裸片的目标存储器单元行中；

从目标存储器裸片接收与测试模式数据相应的测试结果数据；

基于测试模式数据和测试结果数据，确定目标存储器单元行是否包括所述至少一个缺陷单元。

6.根据权利要求5所述的堆叠式存储器装置，其中，

测试电路被配置为：响应于目标存储器单元行包括所述至少一个缺陷单元，将故障标志信号施加到目标存储器裸片的行解码器，故障标志信号指示目标存储器单元行包括所述至少一个缺陷单元；

目标存储器裸片的行解码器被配置为：响应于故障标志信号，将故障地址信息发送到目标存储器裸片的列解码器。

7.根据权利要求5所述的堆叠式存储器装置，其中，行解码器还被配置为：

响应于故障标志信号，生成振荡器使能信号和锁存器输出使能信号；

响应于振荡器使能信号，输出振荡的时钟信号；

将时钟信号分频以生成第一时钟信号和第二时钟信号；

锁存目标存储器单元行的行地址；

响应于第一时钟信号和第二时钟信号，对锁存的行地址进行串行化，以提供故障地址信息。

8.根据权利要求3所述的堆叠式存储器装置，其中，所述至少一个列解码器还被配置为：

接收故障地址信息；

输出与故障地址信息相应的故障地址。

9.根据权利要求1所述的堆叠式存储器装置，其中，测试电路被配置为：响应于对目标存储器裸片完成所述测试，控制所述多个存储器裸片中的所述其他存储器裸片通过所述堆叠式存储器装置的数据输入/输出路径，输出存储在所述其他存储器裸片的至少一个列解码器中的故障地址。

10.根据权利要求9所述的堆叠式存储器装置，其中，测试电路被配置为：

对所述多个存储器裸片中的每个存储器裸片顺序地执行所述测试；

响应于对所述多个存储器裸片中的每个存储器裸片完成所述测试，控制所述多个存储器裸片通过所述堆叠式存储器装置的数据输入/输出路径，输出存储在所述其他存储器裸片的至少一个列解码器中的故障地址。