[发明专利]一种光纤几何参数测试装置

权利要求书

1.一种光纤几何参数测试装置，其特征在于，所述装置包括：

单波长光源，所述单波长光源发射出平行单波长光束；

照明模块，所述照明系统设置在所述单波长光源发射光束方向位置；

第一三维精密位移台，，用于固定待测光纤的第一端，所述平行单波长光束入射至所述待测光纤的第一端；

第二三维精密位移台，所述第二三维精密位移台与所述第一三维精密位移台位于同一平面上，且与所述第一三维精密位移台间隔预设距离排布，用于固定所述待测光纤的第二端，并使得所述待测光纤处于弯曲状态；

物镜，所述物镜用于接收从所述待测光纤的第二端射出的单波长光束并对所述单波长光束对应的光斑进行放大；

光电成像模块，所述光电成像系统与所述物镜耦合，用于对所述物镜出射的放大后的单波长光束进行成像，并基于成像得到的图像信息得到所述待测光纤的几何参数。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述照明系统包括：

环状照明光源，所述环状照明光源设置在所述单波长光源发射光斑方向位置，且所述环状照明光源的几何中心与所述待测光纤的端面中心相重合；

照明控制电路，所述照明控制电路与所述环状照明光源电连接，根据所述待测光纤芯层与包层的对比度，进行明暗场切换。

3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

光学隔振平板，所述光学隔振平板分别位于所述第一三维精密位移台和所述第二三维精密位移台下方。

4.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一距离不小于所述待测光纤的最小弯曲半径的两倍。

5.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述单波长光斑在入射至所述待测光纤的首端时，所述单波长光斑面积大于所述待测光纤的端面面积。

6.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述物镜与所述待测光纤末端的距离小于等于所述第二三维精密位移台的调节行程。

7.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述光电成像系统包括：

光电成像装置，所述光电成像装置位于所述物镜之后，接收所述放大后的单波长光斑，对所述单波长光斑进行成像；

成像控制电路，所述成像控制电路与所述光电成像装置电连接，控制所述光电成像装置的工作状态；

成像控制器，所述成像控制器与所述光电成像装置通讯连接，接收所述单波长光斑的图像信息，并基于所述图像信息得到所述待测光纤的几何参数。

8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述光电成像装置为大于300万像素且具有黑白成像功能的电荷耦合器。

9.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述单波长光源的发光中心、所述照明系统的几何中心和所述待测光纤首端的端面中心均在同一直线上。