[发明专利]一种水污染排放源数据库及其建立方法有效

专利信息
申请号: 201910197655.5 申请日: 2019-03-15
公开(公告)号: CN110083585B 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 吴静;刘博;程澄;刘传旸;沈鉴 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G06F16/21 分类号: G06F16/21;G06F16/25
代理公司: 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 代理人: 邸更岩
地址: 100084 北京市海淀区1*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 水污染 排放 数据库 及其 建立 方法
【权利要求书】:

1.一种水污染排放源数据库,其特征在于:所述数据库包括污染排放源基本信息库、常规水质数据库和水质水纹数据库;所述污染源基本信息库包括污染源名称、地理位置、主要产品、企业处罚记录、联系人和法人;常规水质数据库包括水样的pH值、电导率、化学需氧量、总氮、总磷、氨氮、铜、汞、镍、氰化物和苯胺;所述水质水纹数据库包括水样的三维分子量水纹、荧光水纹和紫外可见吸收光谱;

所述三维分子量水纹包括紫外吸收分子量水纹、多激发荧光分子量水纹和多发射荧光分子量水纹;紫外吸收分子量水纹扫描范围190~900nm,采集间隔1~5nm;多激发荧光分子量水纹激发波长扫描范围220~700nm,采集间隔1~5nm;多发射荧光分子量水纹发射波长扫描范围230~750nm,采集间隔1~5nm;

所述的紫外吸收分子量水纹是用液相体积排阻色谱在二极管阵列检测器多波长模式下采集的关于样品分子量分布的图谱;所述的多激发荧光分子量水纹是用液相体积排阻色谱在荧光检测器多激发模式下采集的关于样品分子量分布的图谱;所述的多发射荧光分子量水纹是用液相体积排阻色谱在荧光检测器多发射模式下采集的关于样品分子量分布的图谱。

2.如权利要求1所述的一种水污染排放源数据库,其特征在于:所述荧光水纹的激发波长扫描范围为220~700nm,发射波长扫描范围为230~750nm,描扫间隔2~5nm。

3.如权利要求1所述的一种水污染排放源数据库,其特征在于:所述紫外可见吸收光谱的扫描范围为190~900nm,扫描间隔为0.2~1nm。

4.如权利要求1-3任一权利要求所述的一种水污染排放源数据库的建立方法,其特征在于该方法包括如下步骤:

1)污染源调研:调研污染源名称、地理位置、主要产品、企业处罚记录、联系人和法人;

2)样品采集:采集污染排放源的废水样品;

3)样品的分析测试:采用国标法测试水样的pH值、电导率、化学需氧量、总氮、总磷、氨氮、铜、汞、镍、氰化物和苯胺;水样用液相体积排阻色谱采集样品的三维分子量水纹,用荧光分光光度计采集样品的荧光水纹,用紫外可见分光光度计采集样品的紫外可见吸收光谱;

4)建立水污染排放源数据库:水污染排放源数据库由污染源基本信息库、常规水质数据库和水质水纹数据库组成;将污染源基本信息录入污染源基本信息库,将常规水质数据录入构建常规水质数据库,将三维分子量水纹、荧光水纹和紫外可见吸收光谱数据录入污染源水质水纹数据库。

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