[发明专利]一种水污染排放源数据库及其建立方法

说明书

一种水污染排放源数据库及其建立方法，该数据库包含污染源基本信息库、常规水质数据库和水质水纹数据库三个子库；所述水质水纹数据库包括水样的三维分子量水纹、荧光水纹和紫外可见吸收光谱。该数据库建立方法包括污染源信息调研、样品采集、样品分析测试和数据库建立。本发明首次提出了三维分子量水纹的概念并将其纳入数据库，其具有水信息量大、选择指标分析测试方法成熟简单、所需设备少、成本低、可操作性和时效性强等特点，可以快速低成本的实现污染源溯源，有利于大范围推广，对水污染溯源具有重要意义。

技术领域

本发明涉水环境监管领域，涉及一种水污染排放源数据库及其建立方法。

背景技术

目前污水超标偷排溯源方法主要依靠排污企业“一点一源”式监管和事故发生后人工排查。排污企业“一点一源”监管即在污染源排放口安装在线监测设备，如果在线监测设备检测到企业排水超过排污标准，则可以对企业追责，但这种方法投入大，且不能避免在线设备遭到人为改动和破坏，也无法监管企业绕过在线监测设备非法偷排的行为，因此效果相对有限。人工排查主要指在污染事故发生后沿着水体流向或排水管网向上游逐步排查，检测和对比异常水样和排污企业水样，以实现非法排放的溯源和追责。但若污染事故上游企业众多，这种方法不仅要浪费大量人力物力，还会丧失排查时效性，最终难以找到肇事企业。

基于排污企业水质数据库辅助的人工排查方法，可以大大减少污染事故发生后人工排查的工作量。同时避免了企业改动和破坏在线监测设备的风险，也无需考虑企业是否有隐秘排污口的问题。这种方法事先构建了排污企业的污水水质数据库，污染事故发生后，通过检测分析污染水样的水质信息并与事先构建的企业水质数据库进行比对来排查肇事企业。这种方法的关键在于水质数据库的构建，理论上与废水相关的各种水质指标(色度、pH值、电导率、化学需氧量、总氮、总磷、特征污染物、各种光谱、色谱和质谱等)都可以用于构建废水的水质数据库。水质指标越多，包含的水质信息越多，对于污染源溯源也越有利，但是同时前期工作量也会越大，数据库会变得庞大而冗余，实际可操作性降低。此前，北京化工大学万平玉等人提出了包含了阴离子种类、有机物种类、金属元素种类、以及荧光信息等污染源化学水纹信息数据库用于水域污染溯源。但该数据库的水质指标分析测试要求高，仪器昂贵，工作量非常大，实际可操作性较差，难以在实际中应用和推广。

发明内容

本发明提供一种水污染排放源数据库及其建立方法，使其具有成本低、信息量大、可操作性、时效性强和准确性高等特点，且数据库构建简单，有利于大范围推广应用。

本发明的技术方案如下：

一种水污染排放源数据库，其特征在于：所述数据库包括污染源基本信息库、常规水质数据库和水质水纹数据库；所述污染源基本信息库包括污染源名称、地理位置、主要产品、企业处罚记录、联系人和法人；常规水质数据库包括水样的pH值、电导率、化学需氧量、总氮、总磷、氨氮、铜、汞、镍、氰化物和苯胺；所述水质水纹数据库包括水样的三维分子量水纹、荧光水纹和紫外可见吸收光谱。

本发明所述三维分子量水纹包括紫外吸收分子量水纹、多激发荧光分子量水纹和多发射荧光分子量水纹；紫外吸收分子量水纹扫描范围190～900nm，采集间隔1～5nm；多激发荧光分子量水纹激发波长扫描范围220～700nm，采集间隔1～5nm；多发射荧光分子量水纹发射波长扫描范围230～750nm，采集间隔1～5nm。所述荧光水纹是采用荧光分光光度计在三维模式下获得的荧光图谱，该荧光图谱的激发波长扫描范围为220～700nm，发射波长扫描范围为230～750nm，描间隔2～5nm；所述紫外可见吸收光谱的扫描范围为190～900nm，扫描间隔为0.2～1nm。

本发明所述的紫外吸收分子量水纹是用液相体积排阻色谱在二极管阵列检测器多波长模式下采集的关于样品分子量分布的图谱；所述的多激发分子量水纹是用液相体积排阻色谱在荧光检测器多激发模式下采集的关于样品分子量分布的图谱；所述的多发射分子量水纹是用液相体积排阻色谱在荧光检测器多发射模式下采集的关于样品分子量分布的图谱。