[发明专利]一种复合载网及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910207585.7 申请日: 2019-03-19
公开(公告)号: CN110010434B 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 何潇;张珺哲 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所
主分类号: H01J37/20 分类号: H01J37/20;H01J37/26;H01J9/00;C23C14/06;C23C16/34;C23C28/04
代理公司: 北京君尚知识产权代理有限公司 11200 代理人: 司立彬
地址: 100049 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 复合 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种复合载网,包括一钼环作为支持基底,基底之上依次为导电胶、坐标铜网、方华膜、导电碳膜、氮化硅膜、导电碳膜;

所述钼环为内径1.4-1.6mm的圆形孔;

所述复合载网是通过如下方法制备的:

1)选用一钼环作为支持基底;

2)将导电胶涂于上述钼环任一侧,之后将涂有导电胶的一侧扣于坐标铜网,并用玻片按压平整,自然干燥;

3)将方华膜置于盛有蒸馏水的烧杯中,方华膜会漂浮在水面上,将未涂有导电胶的坐标铜网面朝下均匀地摆放在方华膜上,按压坐标铜网使其与方华膜贴紧,用滤纸覆盖整个膜,当滤纸刚湿透时提起,坐标铜网与方华膜一起粘附在滤纸上离开水面,并进行烘干;

4)在上述未与坐标铜网连接的方华膜一侧镀上一层导电碳膜;

5)由NH3和SiH4通过化学气相沉积在未与方华膜连接的导电碳膜表面生成一层氮化硅膜;

6)在上述未与导电碳膜连接的氮化硅膜表面再次镀上一层导电碳膜。

2.如权利要求1所述的复合载网,其特征在于,所述复合载网的直径为3-3.2mm,厚度为80-100μm。

3.如权利要求1所述的复合载网,其特征在于,所述坐标铜网为200目,孔径为95-105μm的坐标铜网,孔中心距为115-135μm,肋宽为25-35μm,厚度为28-32μm。

4.如权利要求1所述的复合载网,其特征在于,所述方华膜为软性材质,其厚度为15-20nm。

5.如权利要求1所述的复合载网,其特征在于,所述氮化硅膜由NH3和SiH4通过化学气相沉积反应在所述复合载网基板上生成,厚度为50-55nm。

6.如权利要求1所述的复合载网,其特征在于,所述导电碳膜为软性材质,其厚度为9-20nm。

7.制备权利要求1所述复合载网的方法,包括以下步骤:

1)选用一钼环作为支持基底,所述钼环为内径1.4-1.6mm的圆形孔;

2)将导电胶涂于上述钼环任一侧,之后将涂有导电胶的一侧扣于坐标铜网,并用玻片按压平整,自然干燥;

3)将方华膜置于盛有蒸馏水的烧杯中,方华膜会漂浮在水面上,将未涂有导电胶的坐标铜网面朝下均匀地摆放在方华膜上,按压坐标铜网使其与方华膜贴紧,用滤纸覆盖整个膜,当滤纸刚湿透时提起,坐标铜网与方华膜一起粘附在滤纸上离开水面,并进行烘干;

4)在上述未与坐标铜网连接的方华膜一侧镀上一层导电碳膜;

5)由NH3和SiH4通过化学气相沉积在未与方华膜连接的导电碳膜表面生成一层氮化硅膜;

6)在上述未与导电碳膜连接的氮化硅膜表面再次镀上一层导电碳膜。

8.如权利要求7所述的制备方法,其特征在于,步骤3)中所述烘干温度为58-62℃。

9.如权利要求7所述的制备方法,其特征在于,步骤4)与步骤6)中导电碳膜的制备采用真空镀膜系统。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院高能物理研究所,未经中国科学院高能物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910207585.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top