[发明专利]QFN芯片用高频测试座在审
| 申请号： | 201910212330.X | 申请日： | 2019-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN109884507A | 公开（公告）日： | 2019-06-14 |
| 发明（设计）人： | 钱晓晨;骆兴顺 | 申请（专利权）人： | 苏州和林微纳科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;G01R1/067 |
| 代理公司： | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人： | 蒋慧妮 |
| 地址： | 215163 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试主体 检测孔 探针 导向压板 高频测试 容纳通孔 检测 电路板 传输能力 高频连接 高频信号 板接触 呈片状 大电流 触点 两层 下层 叠加 错位 承载 容纳 芯片 保证 | ||
1.QFN芯片用高频测试座，其特征在于：包括至少两层相互叠加的测试主体板，及设置于测试主体板上方的导向压板，所述导向压板中部开设有用于容纳QFN芯片的容纳通孔腔，所述测试主体板中部为检测部，且所述检测部设置于所述容纳通孔腔正下方，所述检测部开设有检测孔槽，所述检测孔槽内设置有用于与所述QFN芯片连接的探针，所述探针呈片状设置，上、下层测试主体板上的检测孔槽错位开设，所述探针的两端分别置于不同层的检测孔槽内，QFN芯片底部的触点通过探针与所述测试主体板接触连接。
2.如权利要求1所述的QFN芯片用高频测试座，其特征在于：所述检测孔槽设置有四组，且每组检测孔槽由并列开设的多个检测孔槽构成，每个检测孔槽内均设置有探针，相邻检测孔槽组之间相互垂直设置。
3.如权利要求1所述的QFN芯片用高频测试座，其特征在于：所述测试主体板设置有四个端部，且每个端部开设有插接孔，所述导向压板底部设置有导向柱，所述导向压板与所述测试主体板通过导向柱插接连接。
4.如权利要求1所述的QFN芯片用高频测试座，其特征在于：所述测试主体板设置有四层，且相邻测试主体板之间粘结连接。
5.如权利要求4所述的QFN芯片用高频测试座，其特征在于：所述检测孔槽内设置有弹性压件，所述弹性压件横向设置于所述探针上并与探针抵接，同一组检测孔槽共享有一个弹性压件。
6.如权利要求5所述的QFN芯片用高频测试座，其特征在于：所述弹性压件为柱形，所述探针包括有定位端及接触端，所述接触端的顶端与QFN芯片的触点接触，所述定位端上设置有弧形。
7.如权利要求6所述的QFN芯片用高频测试座，其特征在于：所述弹性压件的下端面嵌压于所述定位端的弧形内，所述弹性压件的上端面通过所述导向压板压紧。
8.如权利要求5所述的QFN芯片用高频测试座，其特征在于：所述弹性压件为橡胶压棒。
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