[发明专利]一种SiC晶锭的激光加工设备在审

专利信息
申请号: 201910213922.3 申请日: 2019-03-20
公开(公告)号: CN109909627A 公开(公告)日: 2019-06-21
发明(设计)人: 陈畅;柳啸;李春昊;杨深明;李福海;高云峰 申请(专利权)人: 大族激光科技产业集团股份有限公司
主分类号: B23K26/40 分类号: B23K26/40;B23K26/064;B23K26/082
代理公司: 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 代理人: 赵胜宝
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 晶锭 激光 加工 激光加工设备 裂片装置 切割 传送装置 激光光束 加工区域 切装置 改制 聚焦 激光热加工 材料损耗 切片效率 区域重合 发射 传送
【说明书】:

发明公开了一种SiC晶锭的激光加工设备,该设备包括激光隐切装置、激光解裂片装置和传送装置,激光隐切装置发射的第一激光光束聚焦到待加工SiC晶锭内部,在待加工SiC晶锭内部形成切割改制区域,传送装置用于将待加工SiC晶锭传送至激光解裂片装置的目标加工区域,目标加工区域与待加工SiC晶锭内部的切割改制区域重合,激光解裂片装置发射的第二激光光束聚焦到待加工SiC晶锭内部的切割改制区域进行激光热加工,从待加工SiC晶锭中分离得到SiC片。本发明提供的SiC晶锭的激光加工设备,可以解决现有技术中SiC晶锭的切片效率低,材料损耗大、加工成本高的技术问题。

技术领域

本发明涉及激光技术领域,更具体地说,涉及一种SiC晶锭的激光加工设备。

背景技术

在半导体行业中,为了得到单片厚度较薄的SiC片,目前较为普遍的加工方法是将晶锭用线切割的方式先切开成片,然后再经过后续的研磨减薄制程以达到特定厚度。这种加工方式较为成熟,但有具有以下缺点:(1)将SiC晶锭切开成片之后再进行研磨减薄的过程将会使SiC晶锭的切片效率低;(2)相当一部分的SiC材料在研磨过程中被研磨掉而造成材料损耗;(3)线切割设备、研磨设备的工艺成本高。

发明内容

本发明提供了一种SiC晶锭的激光加工设备,可以解决现有技术中SiC晶锭的切片效率低,材料损耗大、加工成本高的技术问题。

本发明提供一种SiC晶锭的激光加工设备,该激光加工设备包括激光隐切装置(1)、激光解裂片装置(2)和传送装置(3);

激光隐切装置(1)发射的第一激光光束聚焦到待加工SiC晶锭(4)内部,在待加工SiC晶锭(4)内部形成切割改制区域;

传送装置(3)用于将待加工SiC晶锭(4)传送至激光解裂片装置(2)的目标加工区域,目标加工区域与待加工SiC晶锭(4)内部的切割改制区域重合;

激光解裂片装置(2)发射的第二激光光束聚焦到待加工SiC晶锭(4)内部的切割改制区域进行激光热加工,从待加工SiC晶锭(4)中分离得到SiC片。

可选的,传送装置(3)包括第一陶瓷运载台(311)、第一双轨直线电机(312);

第一陶瓷运载台(311)放置在待加工SiC晶锭(4)下,第一陶瓷运载台(311)包括多孔质陶瓷吸附板,多孔质陶瓷吸附板上均匀分布有直径为2um的气孔,用于吸附待加工SiC晶锭(4)的底面;

第一双轨直线电机(312)用于放置并传送第一陶瓷运载台(311)。

可选的,传送装置(3)包括第二陶瓷运载台(321)、第二双轨直线电机(322)、折叠机械臂(323);

第二陶瓷运载台(321)包括多孔质陶瓷吸附板,多孔质陶瓷吸附板上均匀分布有直径为2um的气孔,用于吸附待加工SiC晶锭(4)的侧面;

折叠机械臂(323)的两端分别与第二陶瓷运载台(321)、第二双轨直线电机(322)连接;

第二双轨直线电机(322)用于通过折叠机械臂(323),传送第二陶瓷运载台(321)。

可选的,激光隐切装置(1)包括第一激光器(101)、扩束镜(102)、第一反射镜(103)第二反射镜(104)、光斑衍射元件(105)、第三反射镜(106)、第一聚焦镜(107);光斑衍射元件(105)产生的光斑数量范围为3-9个,光斑的分布间距为10um~30um。

第一激光器(101)发射第一激光光束依次经过扩束镜(102)、第一反射镜(103)第二反射镜(104)、光斑衍射元件(105)、第三反射镜(106)并垂直入射至第一聚焦镜(107),并经第一聚焦镜(107)聚焦到待加工SiC晶锭(4)内部,在待加工SiC晶锭(4)内部形成切割改制区域。

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