[发明专利]一种待测芯片及测试系统

权利要求书

1.一种待测芯片，其特征在于，包括待测功能管脚、测试专用管脚、数据读取寄存器及数据写入寄存器；其中，所述数据读取寄存器与所述待测功能管脚一一对应连接，用于读取连接的所述待测功能管脚的信号状态，所述数据写入寄存器与所述测试专用管脚一一对应连接，用于将信号状态写入连接的所述测试专用管脚，任一个所述数据写入寄存器在同一时刻最多与一个所述数据读取寄存器连接，以供示波器由对应测试专用管脚读取与该测试专用引脚连接的待测功能管脚的信号状态；

所述待测芯片还包括开关矩阵，所述开关矩阵包括多个默认断开的开关，任一个所述数据读取寄存器及任一个所述数据写入寄存器之间均通过所述开关矩阵中的一个开关连接；所述开关矩阵用于在接收到测试控制信号时控制对应的开关闭合，以连接对应的数据写入寄存器及数据读取寄存器；其中，所述测试专用管脚的数量小于所述待测功能管脚的数量；

所述待测芯片还包括独热码检测器，所述独热码检测器与所述开关矩阵连接，用于检测所述测试控制信号是否为通过控制相应开关闭合使得该开关连接的数据读取寄存器与最多一个数据写入寄存器连接的信号，如果是，则确定所述测试控制信号有效，如果否，则确定所述测试控制信号无效，并控制所述开关矩阵中全部开关断开；

所述待测芯片还包括信号转换模块及开关控制寄存器；其中，所述信号转换模块用于接收所述测试控制信号并将所述测试控制信号转换为预设类型的信号，所述开关控制寄存器分别与所述信号转换模块、所述开关矩阵及所述独热码检测器连接，用于为所述独热码检测器提供所述测试控制信号以及利用所述测试控制信号控制所述开关矩阵中相应的开关。

2.根据权利要求1所述的待测芯片，其特征在于，所述测试专用引脚的数量与所述示波器的信号输入端数量相同，并一一对应的连接到所述示波器的信号输入端。

3.一种测试系统，其特征在于，所述测试系统包括待测板卡及示波器，所述待测板卡包括如权利要求1至2任一项所述的待测芯片，所述示波器与所述待测板卡连接，用于读取所述待测芯片中对应待测功能管脚的信号状态。

4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述待测板卡还包括测试连接器，所述测试系统还包括测试板卡，所述测试板卡包括同轴线缆连接器，所述待测芯片与所述测试连接器连接，所述测试连接器与所述测试板卡连接，所述测试板卡通过所述同轴线缆连接器与所述示波器连接。

5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述测试系统还包括控制终端，所述待测板卡还包括信号连接器，所述信号连接器与所述待测芯片连接，用于接收所述控制终端发送的测试控制信号并传输给所述待测芯片。