[发明专利]一种待测芯片及测试系统

说明书

本发明公开了一种待测芯片及测试系统，其中该待测芯片包括待测功能管脚、测试专用管脚、数据读取寄存器及数据写入寄存器；其中，数据读取寄存器与待测功能管脚一一对应连接，用于读取连接的待测功能管脚的信号状态，数据写入寄存器与测试专用管脚一一对应连接，用于将信号状态写入连接的测试专用管脚，任一个数据写入寄存器在同一时刻最多与一个数据读取寄存器连接，以供示波器由对应测试专用管脚读取与该测试专用引脚连接的待测功能管脚的信号状态。本申请仅需对待测功能管脚的信号状态进行读取即可实现信号测量，不会对待测功能管脚的信号进行引出，因此不存在因对待测功能管脚的信号进行引出导致信号分叉因而影响信号质量的问题。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，更具体地说，涉及一种待测芯片及测试系统。

背景技术

在服务器的调试阶段，为了验证服务器的系统功能、定位故障原因，经常需要测试数字信号的波形，这些数字信号一般从服务器的业务芯片中引出。

当前测试数字信号波形的方法主要有两种：第一种是手动采用示波器探头接触待测芯片(待测芯片即为需要实现信号测量的待测芯片)所属板卡上和需要检测的数字信号对应的过孔、焊盘、管脚等裸露出的导体部分(测点)，进行数字信号的波形测量，这种方法操作困难，如果操作不当还可能造成板卡损坏，并且不一定所有的数字信号都有合适的裸露测点；第二种是在设计时将待测芯片所有或部分可能测到的数字信号都通过一定方式连接到对应的连接器上，进而通过该连接器与示波器连接从而实现数字信号的波形测量，这种方法无需在待测芯片所属板卡上裸露测点进而通过探头接触测点实现测量，因此解决了第一种方法中存在的问题，但是这种方法由于将数字信号与其他器件(连接器等)连接会对数字信号进行引出，因此会导致信号分叉影响信号质量。

综上所述，现有技术中用于实现待测芯片对应信号测量的技术方案存在因信号引出导致信号分叉进而影响信号质量的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种待测芯片及测试系统，能够解决现有技术中用于实现待测芯片对应信号测量的技术方案存在的因信号引出导致信号分叉进而影响信号质量的问题。

为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种待测芯片，包括待测功能管脚、测试专用管脚、数据读取寄存器及数据写入寄存器；其中，所述数据读取寄存器与所述待测功能管脚一一对应连接，用于读取连接的所述待测功能管脚的信号状态，所述数据写入寄存器与所述测试专用管脚一一对应连接，用于将信号状态写入连接的所述测试专用管脚，任一个所述数据写入寄存器在同一时刻最多与一个所述数据读取寄存器连接，以供示波器由对应测试专用管脚读取与该测试专用引脚连接的待测功能管脚的信号状态。

优选的，还包括开关矩阵，所述开关矩阵包括多个默认断开的开关，任一个所述数据读取寄存器及任一个所述数据写入寄存器之间均通过所述开关矩阵中的一个开关连接；所述开关矩阵用于在接收到测试控制信号时控制对应的开关闭合，以连接对应的数据写入寄存器及数据读取寄存器；其中，所述测试专用管脚的数量小于所述待测功能管脚的数量。

优选的，还包括独热码检测器，所述独热码检测器与所述开关矩阵连接，用于检测所述测试控制信号是否为通过控制相应开关闭合使得该开关连接的数据读取寄存器与最多一个数据写入寄存器连接的信号，如果是，则确定所述测试控制信号有效，如果否，则确定所述测试控制信号无效，并控制所述开关矩阵中全部开关断开。

优选的，还包括信号转换模块及开关控制寄存器；其中，所述信号转换模块用于接收所述测试控制信号并将所述测试控制信号转换为预设类型的信号，所述开关控制寄存器分别与所述信号转换模块、所述开关矩阵及所述独热码检测器连接，用于为所述独热码检测器提供所述测试控制信号以及利用所述测试控制信号控制所述开关矩阵中相应的开关。

优选的，所述测试专用引脚的数量与所述示波器的信号输入端数量相同，并一一对应的连接到所述示波器的信号输入端。