[发明专利]显示面板缺陷高度检测方法

权利要求书

1.一种显示面板缺陷高度检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤S1、将显示面板(10)设于白光干涉系统(20)的下方；

步骤S2、该白光干涉系统(20)获取所述显示面板(10)的缺陷(11)；

步骤S3、该白光干涉系统(20)利用白光干涉成像对显示面板(10)中的缺陷(11)进行高度检测；当白光干涉系统(20)形成干涉条纹，则判定显示面板(10)中的缺陷(11)的高度大于或等于预设阈值，当白光干涉系统(20)未形成干涉条纹，则判定显示面板(10)中的缺陷(11)的高度小于预设阈值。

2.如权利要求1所述的显示面板缺陷高度检测方法，其特征在于，所述白光干涉系统(20)包括：光源(21)、设于所述光源(21)一侧的折射透镜组(22)、设于所述折射透镜组(22)上方的摄像部(23)、设于所述折射透镜组(22)下方的反射镜(24)、设于所述反射镜(24)下方的半透镜(25)；

所述步骤S3具体为：所述光源(21)发出的入射光(211)经过折射透镜组(22)折射到半透镜(25)上时，该入射光(211)分为反射光线(212)与透射光线(213)，反射光线(212)射向反射镜(24)后反射至半透镜(25)，再经半透镜(25)反射至折射透镜组(22)，再经折射透镜组(22)折射至摄像部(23)，透射光线(213)射向显示面板(10)中的缺陷(11)后反射至半透镜(25)，再经半透镜(25)透射至折射透镜组(22)，再经折射透镜组(22)折射至摄像部(23)；

当透射光线(213)到达摄像部(23)的光程等于反射光线(212)到达摄像部(23)的光程时，摄像部(23)会形成干涉条纹，则判定显示面板(10)中的缺陷(11)的高度大于或等于预设阈值；当透射光线(213)到达摄像部(23)的光程大于反射光线(212)到达摄像部(23)的光程时，摄像部(23)无法形成干涉条纹，则判定显示面板(10)中的缺陷(11)的高度小于预设阈值。

3.如权利要求2所述的显示面板缺陷高度检测方法，其特征在于，所述白光干涉系统(20)还包括与反射镜(24)连接的调节单元(26)，该调节单元(26)用于调节反射镜(24)与半透镜(25)之间预设的距离。

4.如权利要求3所述的显示面板缺陷高度检测方法，其特征在于，所述调节单元(26)为压电陶瓷。

5.如权利要求3所述的显示面板缺陷高度检测方法，其特征在于，所述反射镜(24)与半透镜(25)之间预设的距离等于预设阈值的高度的缺陷(11)与半透镜(25)之间的距离。

6.如权利要求2所述的显示面板缺陷高度检测方法，其特征在于，所述反射镜(24)的长度小于所述半透镜(25)的长度。

7.如权利要求2所述的显示面板缺陷高度检测方法，其特征在于，所述折射透镜组(22)包括相互平行的第一折射透镜(221)和第二折射透镜(222)，以及设于所述第一折射透镜(221)和第二折射透镜(222)之间的光反射片(223)。

8.如权利要求7所述的显示面板缺陷高度检测方法，其特征在于，所述光反射片(223)相对于第二折射透镜(222)倾斜，且所述光反射片(223)与光源(21)发出的入射光(211)的入射方向形成预设角度。

9.如权利要求8所述的显示面板缺陷高度检测方法，其特征在于，所述预设角度为45°。

10.如权利要求1所述的显示面板缺陷高度检测方法，其特征在于，所述步骤S2具体为：所述白光干涉系统(20)获取显示面板(10)中多个同一颜色的子像素单元(12)的灰阶图像，当一子像素单元(12)的灰阶与预设灰阶相同时，则判定该子像素单元(12)不存在缺陷(11)，当一子像素单元(12)的灰阶与预设灰阶不相同时，则判定该子像素单元(12)存在缺陷(11)。