[发明专利]基于晶片区分的石英晶片谐振频率及散差统计方法

权利要求书

1.一种基于晶片区分的石英晶片谐振频率及散差统计方法，其特征在于，包括以下步骤：

流程开始，判断本次扫频采样是否完成，若已完成，进入晶片区分和数据处理流程，完成后，进入连续圈转速是否稳定判断流程；若未完成，进入连续圈转速是否稳定判断流程；

判定连续圈转速是否稳定，若是，进一步判定本圈内本段定时时间是否到；若否，进行圈数进入判定；

判定本圈内本段定时时间到是否到，若是，进行本圈内本段定时时间到数据处理流程；若否，进行圈数进入判定；

判定是否圈数进入，若是，进入转速稳定判断流程和本圈数据结束处理流程，然后进入实时频率处理流程；若否，直接进入实时频率处理流程；

判定是否需要停机，若是，关停研磨机，流程结束；若否，判定数据发送定时时间是否到，若是，将谐振频率平均值发送到触摸屏显示，进入新一轮流程；若否，直接进入新一轮流程，

所述晶片区分和数据处理流程如下：

流程开始，基于波形匹配方法求谐振频率；

判断是否检测到谐振频率，若无，继续判断连续未测到谐振频率次数Y是否大于未测到谐振频率次数设定阈值N，若是，继续判断连续测到谐振频率次数X是否大于连续测到谐振频率次数设定阈值M，若是，连续测到谐振频率后连续未测到谐振频率次数Y’+1，继续判断连续测到谐振频率后连续未测到谐振频率次数Y’是否大于未测到谐振频率次数设定阈值N，若是，进行以下步骤：(a)进行单片晶片谐振频率处理方法；进行测到谐振频率堆栈处理方法；(b)1圈测到晶片数+1；1圈测到谐振频率数+X；计算片内散差；(c)X＝0，Y＝Y’，Y’＝0后结束处理流程；判断流程中，若Y不大于N，且X不大于M，则进行以下设定：X＝0，Y++，Y’＝0；若Y’不大于N，则结束处理流程；

若检测到谐振频率，继续判断连续未测到谐振频率次数Y是否大于未测到谐振频率次数设定阈值N，若是，进行以下步骤：存储谐振频率瞬时值，记录谐振频率时间点，X++，Y’＝0；若否，进行以下步骤：X＝0，Y++，Y’＝0。

2.如权利要求1所述的基于晶片区分的石英晶片谐振频率及散差统计方法，其特征在于，所述单片晶片谐振频率处理方法具体如下：

对单片晶片所有谐振所有频率求平均值；

对单片瞬时谐振频率数组采用冒泡排序法排序；

判定数据个数是否大于设定值，若是，进行以下步骤：求标准差，根据标准差及设定系数对数据进行过滤，对剩余的数据求平均值后作为该片的频率值，数据滤波后的最大值和最小值的差值作为单片散差；若否，取所有数据的平均值后作为该片的频率值，原始数据最大值和最小值的差值作为单片散差。

3.如权利要求1所述的基于晶片区分的石英晶片谐振频率及散差统计方法，其特征在于，所述测到谐振频率堆栈处理方法具体如下：

设定圈数内转速稳定判断结果标志位TurnsStableFlag，该标志位在有圈数进入时进行判断设定；

a)TurnsStableFlag＝0，转速不稳定；

b)TurnsStableFlag＝1，转速稳定；

c)TurnsStableFlag＝2，转速从不稳定进入稳定的第一圈；

转速不稳定时不对单圈进行定时区段划分，直接以圈为单位处理；转速稳定时以每圈定时分段处理。

4.如权利要求1所述的基于晶片区分的石英晶片谐振频率及散差统计方法，其特征在于，所述转速稳定判断流程如下：

流程开始，判定是否圈数进入，若是，判定圈数是否小于2，若是，根据圈数和时间计算上一次转速speed1；若否，根据圈数和时间计算本次转速speed2，在判断|Speed1-Speed2|/Speed1是否小于转速比较阈值Threshold，若是，设定连续稳定圈数++；Speed1＝Speed2，Speed2＝0；若否，设定连续稳定圈数＝0，Speed1＝Speed2，Speed2＝0；

设定连续稳定圈数+1后继续判定连续稳定圈数是否大于等于圈数设定值TurnSet，若是，判定是否TurnsStableFlag＝0，若是设定TurnsStableFlag＝2，若否设定TurnsStableFlag＝1；

根据设定划分段数，单圈进行时间划分。