[发明专利]一种芯片烧录数据的采集分析方法和系统在审
| 申请号： | 201910244622.1 | 申请日： | 2019-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN110322584A | 公开（公告）日： | 2019-10-11 |
| 发明（设计）人： | 葛晓欢;樊海涛 | 申请（专利权）人： | 浙江省北大信息技术高等研究院;杭州未名信科科技有限公司 |
| 主分类号： | G07C3/00 | 分类号： | G07C3/00;G07C3/14;G06F8/61 |
| 代理公司： | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人： | 刘广达 |
| 地址： | 311200 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 烧录 芯片 测试信息 芯片烧录 烧录机 采集 标志信息 烧录失败 生产流程 数据分析 数据收集 存储器 记录 服务器 存储 分析 追溯 互联网 成功 | ||
1.一种芯片烧录数据的采集分析方法，用于芯片烧录机，其特征在于，所述方法包括如下步骤：
对芯片进行烧录；
记录每颗芯片的烧录信息和测试信息；
将所述烧录信息和测试信息通过互联网发送到服务器。
2.根据权利要求1所述的一种芯片烧录数据的采集分析方法，其特征在于，
所述对芯片进行烧录，包括：
烧录程序通过一个或多个通道分别对多个芯片进行烧录，同时实时检测各芯片的烧录进度。
3.根据权利要求1所述的一种芯片烧录数据的采集分析方法，其特征在于，
所述每颗芯片的烧录信息，包括以下信息：芯片的识别号、型号、烧录参数、烧录成功与否、烧录失败标志信息。
4.根据权利要求1所述的一种芯片烧录数据的采集分析方法，其特征在于，
在记录每颗芯片的烧录信息之前，每一颗芯片都首先被烧录机识别出来，所述识别的方式是通过烧录机软件扫描每颗芯片的信息记录数据端口而获得。
5.根据权利要求1所述的一种芯片烧录数据的采集分析方法，其特征在于，
所述每颗芯片的烧录信息和测试信息存储在烧录机的存储器中。
6.一种芯片烧录数据的采集分析系统，用于芯片烧录机，其特征在于，所述系统包括如下模块：
烧录模块，用于对芯片进行烧录；
烧录信息记录模块，用于记录每颗芯片的烧录信息和测试信息；
上传模块，用于将所述烧录信息和测试信息通过互联网发送到服务器；
测试模块，对于芯片进行功能测试，并记录每颗芯片的测试信息。
7.根据权利要求6所述的一种芯片烧录数据的采集分析系统，其特征在于，
所述烧录模块使用烧录程序通过一个或多个通道分别对多个芯片进行烧录，同时实时检测各芯片的烧录进度。
8.根据权利要求6所述的一种芯片烧录数据的采集分析系统，其特征在于，
所述每颗芯片的烧录信息，包括以下信息：芯片的识别号、型号、烧录参数、烧录成功与否、烧录失败标志信息。
9.根据权利要求6所述的一种芯片烧录数据的采集分析系统，其特征在于，
在记录每颗芯片的烧录信息之前，每一颗芯片都首先被烧录机识别出来，所述识别的方式是通过烧录机软件扫描每颗芯片的信息记录数据端口而获得。
10.根据权利要求6所述的一种芯片烧录数据的采集分析系统，其特征在于，
所述每颗芯片的烧录信息和测试信息存储在烧录机的存储器中。
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