[发明专利]一种芯片烧录数据的采集分析方法和系统

说明书

本发明公开了一种芯片烧录数据的采集分析方法和系统，用于芯片烧录机，所述方法包括如下步骤：对芯片进行烧录；记录每颗芯片的烧录信息和测试信息；将所述烧录信息和测试信息通过互联网发送到服务器。所述每颗芯片的烧录信息，包括以下信息：芯片的识别号、型号、烧录参数、烧录成功与否、烧录失败标志信息。在记录每颗芯片的烧录信息之前，每一颗芯片都首先被烧录机识别出来。所述每颗芯片的烧录信息和测试信息存储在烧录机的存储器中。与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：该方法通过对烧录阶段的数据收集，可以使得芯片厂家掌握第一手的烧录阶段的生产资料，并可追溯该芯片的整个生产流程，通过数据分析的方法，找出烧录失效的原因，进行改善。

技术领域

本发明涉及芯片烧录技术领域，尤其是涉及芯片烧录数据的采集分析方法和系统。

背景技术

芯片烧录为客户在生产其最终产品前，需要对某些需要配置的芯片进行功能参数调节，或者客户将自身开发的程序烧入到芯片里面。芯片烧录环节发生在客户生产阶段。

现有技术中，例如，中国发明专利公开号CN109189407A公开了一种对多芯片烧录的统计方法、系统、装置和存储介质。所述方法包括建立报表、向报表实时填充工作数据和将报表实时存储到指定路径等步骤；所述系统包括报表建立模块、数据填充模块和报表存储模块；所述装置包括上位机、多通道烧录器和数字万用表。中国发明专利公开号CN109062584A公开了一种同时烧录多个芯片的装置、方法、系统和存储介质。所述装置包括夹具、上位机、数据采集卡、多通道烧录器、数字万用表和多个继电器；所述方法包括上位机向多通道烧录器发送烧录指令，多通道烧录器通过多个通道分别对多个芯片进行烧录，同时实时检测各芯片的烧录进度并将烧录进度反馈到上位机，判断各芯片的烧录结果并记录烧录结果，对烧录成功的芯片进行电流测试，将电流测试结果反馈到上位机，记录各芯片的烧录结果和相应的电流测试结果等步骤。

然而，按照目前的生产手段，存在着如下问题：

(1)现有的烧录机只会记录简单的烧录信息，比如烧录了多少颗，多少个良品，多少个次品，但不能记录具体哪一个芯片才是次品哪一个芯片才是良品。也就是说，现有烧录机只关心和记录良品次品的整体数量也不关心和记录更加细节的信息。

(2)现有专利中的烧录结果是通过上位机采集并记录的，烧录机本身不记录信息。

(3)现有专利中只记录烧录结果和电流信息。

(4)现有专利中只能在烧录机本地生成报表，无法联网，信息采集不及时，使用效率低。

(5)现有专利中是从使用者的角度出发，收集烧录信息。芯片厂家无法有效收集不良品信息，无法对芯片烧写的不良率进行改善。

(6)芯片厂家卖出芯片后，目前无有效手段监管芯片的烧录信息和客户的使用情况。

发明内容

本发明的目的是通过以下技术方案实现的。

本发明至少解决了如下技术问题：芯片厂家无法收集到芯片烧录这一生产环节信息的问题。

具体的，根据本发明的一个方面，提供了一种芯片烧录数据的采集分析方法，用于芯片烧录机，所述方法包括如下步骤：对芯片进行烧录；记录每颗芯片的烧录信息和测试信息；将所述烧录信息和测试信息通过互联网发送到服务器。

优选的，所述对芯片进行烧录，包括：烧录程序通过一个或多个通道分别对多个芯片进行烧录，同时实时检测各芯片的烧录进度。

优选的，所述每颗芯片的烧录信息，包括以下信息：芯片的识别号、型号、烧录参数、烧录成功与否、烧录失败标志信息。

优选的，在记录每颗芯片的烧录信息之前，每一颗芯片都首先被烧录机识别出来，所述识别的方式是通过烧录机软件扫描每颗芯片的信息记录数据端口而获得。