[发明专利]一种测量系统及方法

说明书

本发明实施例提供了一种测量系统及测量方法，包括控制模块以及与控制模块相连的漏光检测模块；所述漏光检测模块用于对待测器件进行漏光检测，并将检测到的漏光数据发送到所述控制模块；所述控制模块用于控制所述漏光检测模块工作，并接收所述漏光检测模块发送的漏光数据。本发明实现自动化测试，测试的准确性高，测试效率快。

技术领域

本发明涉及激光器技术领域，特别是涉及一种测量系统及一种测量方法。

背景技术

目前，对激光器的检测有如下不足：

1、需要高度依赖操作人员进行操作，而且测试的重复性差，导致测试的一致性差，并且获取的测试结果判断主观，无法作定量分析；

2、存在因测试异常导致人员受伤的风险，尤其对于中高功率激光器，对人身安全具有极大的破坏性。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种测量系统和相应的一种测量方法。

为了解决上述问题，本发明实施例公开了一种测量系统，包括控制模块以及与所述控制模块连接的漏光检测模块；

所述漏光检测模块，用于对待测器件进行漏光检测，并将检测到的漏光数据发送到所述控制模块；

所述控制模块，用于控制所述漏光检测模块工作，并接收所述漏光检测模块发送的漏光数据。

可选地，所述测量系统还包括与所述控制模块相连的测试机框，所述测试机框为待测器件或用于承载所述待测器件，所述待测器件包括光路模块、电路模块和QBH输出器件；

所述电路模块用于为所述光路模块提供电源，所述光路模块用于生成激光，所述QBH输出器件用于输出所述光路模块生成的激光。

可选地，所述测量系统还包括与所述控制模块相连的测试模块，所述测试模块用于对所述QBH输出器件输出的激光进行多项参数检测，并将参数数据发送给所述控制模块，所述控制模块用于控制所述测试模块工作，并接收所述测试模块发送的参数数据。

可选地，所述测量系统还包括待测试盘；

所述待测试盘，用于放置光学元件，所述光路模块给所述光学元件提供运作的光路并生成激光。

可选地，所述待测试盘正反面复用，所述待测试盘包括走线槽和温度监测模块，所述走线槽包括防窜烧模块和防损毁模块。

可选地，所述漏光检测模块包括移动轴和探测模块，所述探测模块设在移动轴上，所述探测模块至少包括热像仪、光功率探头和CCD/CMOS相机中的一种，所述移动轴用于在X、Y、Z轴方向上移动。

若探测模块使用CCD/CMOS相机探测，将生成漏光数据发送给所述控制模块，所述控制模块将所述漏光数据生成漏光参数。

可选地，所述测试模块包括QBH接口、激光参数检测器和测试移动轴，所述QBH接口和所述QBH输出器件相连，用于接收所述QBH输出器件输出的激光，并将激光输出至所述激光参数检测器；

所述激光参数检测器用于检测激光的参数；

所述测试移动轴与所述激光参数检测器相连，用于控制所述激光参数检测器在X、Y、Z轴方向上移动。

可选地，还包括与所述控制模块相连的扩展模块；

所述扩展模块用于对待测器件或所述测试机框进行扩展检测并生成扩展测试结果，所述扩展测试包括M²测试、光斑测试和外观检测测试中的至少一种。