[发明专利]一种单细胞中银纳米颗粒含量的分析方法有效
申请号: | 201910246159.4 | 申请日: | 2019-03-29 |
公开(公告)号: | CN109900623B | 公开(公告)日: | 2021-05-28 |
发明(设计)人: | 王萌;郑令娜;汪冰;陈汉清;丰伟悦 | 申请(专利权)人: | 中国科学院高能物理研究所 |
主分类号: | G01N15/10 | 分类号: | G01N15/10 |
代理公司: | 北京中知君达知识产权代理有限公司 11769 | 代理人: | 李辰 |
地址: | 100049 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 单细胞 纳米 颗粒 含量 分析 方法 | ||
1.一种单细胞中银纳米颗粒含量的分析方法,包括:
a)制备带有银纳米颗粒的单细胞阵列,具体为:用磷酸盐缓冲溶液清洗微孔阵列,真空脱气后,在微孔中加入单细胞悬液,用磷酸盐缓冲液进行冲洗得到在微孔中的单细胞阵列;
对含有银纳米颗粒的单细胞阵列用同位素稀释剂进行处理,获得含有同位素稀释剂的单细胞阵列;对含有银纳米颗粒的单细胞阵列用同位素稀释剂进行处理具体为:利用喷墨打印机将同位素稀释剂109Ag溶液打印到单细胞阵列上,溶液点与点之间的间距设定为150μm-240μm;
b)采用激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱法测定单细胞阵列中单细胞109Ag/107Ag的比值,根据所述109Ag/107Ag的比值计算得到单细胞中银纳米颗粒的含量。
2.根据权利要求1所述的分析方法,其特征在于,所述步骤b)包括:
用点激光剥蚀对含有同位素稀释剂的单细胞阵列进行处理;
选取109Ag、107Ag和31P作为待测同位素进行测量,计算得到109Ag/107Ag的比值,根据所述109Ag/107Ag的比值计算得到单细胞中银纳米颗粒的含量。
3.根据权利要求2所述的分析方法,其特征在于,所述点激光剥蚀进行处理时的剥蚀深度为15-25μm。
4.根据权利要求3所述的分析方法,其特征在于,所述点激光剥蚀进行处理时激光能量为2.0J/cm2—3.0J/cm2,激光频率为8-15Hz,光斑尺寸为45μm-70μm。
5.根据权利要求4所述的分析方法,其特征在于,所述步骤b)中用电感耦合等离子体质谱法进行处理的条件为功率1000-2000W、雾化气流速为0.8L/min-1.2L/min、辅助气流速为0.7L/min-1.2L/min。
6.根据权利要求1所述的分析方法,其特征在于,所述计算得到109Ag/107Ag的比值,根据所述109Ag/107Ag的比值计算得到单细胞中银纳米颗粒的含量,具体为:
根据公式(1)测量得到单细胞中银纳米颗粒的含量:
其中:msp,ms分别是稀释剂和单细胞中Ag元素的质量;Absp,Abs分别为稀释剂和单细胞中同位素109Ag的丰度;Rsp,Rs,Rm分别为在稀释剂、单细胞和混合样品中同位素109Ag和同位素107Ag的比值。
7.根据权利要求1所述的分析方法,其特征在于,所述步骤a)中同位素稀释剂为2%HNO3的109Ag溶液。
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