[发明专利]一种单细胞中银纳米颗粒含量的分析方法

说明书

本发明公开了一种单细胞中银纳米颗粒含量的分析方法，包括：a)对含有银颗粒的单细胞阵列用同位素稀释剂进行处理，获得含有同位素稀释剂的单细胞阵列；b)采用激光剥蚀‑电感耦合等离子体质谱法(LA‑ICP‑MS)测定阵列中单细胞¹⁰⁹Ag/¹⁰⁷Ag的比值，根据所述¹⁰⁹Ag/¹⁰⁷Ag的比值计算得到单细胞中银纳米颗粒的含量。本发明提供了一种在单细胞水平研究细胞与纳米材料相互作用的过程和机制，采用同位素稀释法结合LA‑ICP‑MS定量分析了单细胞中的银纳米颗粒的含量，定量分析结果准确，分析通量高。

技术领域

本发明涉及生物检测领域，具体涉及一种单细胞中银纳米颗粒的分析方法。

背景技术

电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS方法)是以等离子体为离子源的一种质谱型元素分析方法，主要用于进行多种元素的同时测定。ICP-MS的工作原理是样品由载气(氩气)引入雾化系统进行雾化后，以气溶胶形式进入等离子体中心区，在高温和惰性气氛中被去溶剂化、汽化解离和电离，转化成带正电荷的正离子。正离子经离子采集系统进入质量分析器，质量分析器根据质荷比进行分离，然后根据元素质谱峰强度测定样品中相应元素的含量。ICP-MS方法目前已经广泛应用于各领域化学计量学的痕量元素分析。

激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱法LA-ICP-MS是将激光剥蚀系统LA与ICP-MS联用的分析方法，是一种可以用于测定小体积固体样品中金属元素的组成和含量的技术。目前，LA-ICP-MS已经广泛应用于生物、地质、宝石、指纹和土壤等样品的分析。LA-ICP-MS作为一种成熟的元素分析和成像技术，可提供生物样品中元素分布的空间信息。

目前，已经有人将LA-ICP-MS应用于单细胞中金属含量的测定。但有如下瓶颈亟待解决：1)缺少合适的单细胞标准物质，而且由于基体效应和元素分馏等影响，难以准确定量：2)基于LA-ICP-MS的单细胞分析通量低。

同位素稀释法是目前常用的定量方法，它是在样品中加入已知浓度的同位素稀释剂，通过检测待测元素的同位素比值，计算出待测元素的浓度。同位素稀释法具有灵敏度高、准确度好以及不受基体干扰等特点。本发明人考虑，如果将同位素稀释法与激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱结合，则可以很好的解决单细胞中元素准确定量的难题。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明提供一种单细胞中银纳米颗粒含量的分析方法，包括：

a)对含有银颗粒的单细胞阵列用同位素稀释剂进行处理，获得含有同位素稀释剂的单细胞阵列；

b)采用激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱法测定单细胞阵列中单细胞¹⁰⁹Ag/¹⁰⁷Ag的比值，根据所述¹⁰⁹Ag/¹⁰⁷Ag的比值计算得到单细胞中银纳米颗粒的含量。

优选的，所述步骤b)包括：

用点激光剥蚀对含有同位素稀释剂的单细胞阵列进行处理；

选取¹⁰⁹Ag、¹⁰⁷Ag和³¹P作为待测同位素进行测量，计算得到¹⁰⁹Ag/¹⁰⁷Ag的比值，根据所述¹⁰⁹Ag/¹⁰⁷Ag的比值计算得到单细胞中银纳米颗粒的含量。

优选的，所述点激光剥蚀进行处理时的剥蚀深度为15-25μm。

优选的，所述点激光剥蚀进行处理时激光能量为2.0J/cm²-3.0J/cm²，激光频率为8-15Hz，光斑尺寸为45μm-70μm。