[发明专利]应用于光学模组的缺陷检测方法及检测装置

权利要求书

1.一种应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述光学模组包括采集单元与显示单元，所述应用于光学模组的缺陷检测方法包括：

控制所述光学模组的所述显示单元显示图卡；

获取所述图卡的图卡图像；所述图卡图像包括第一区块与第二区块，所述第一区块与所述第二区块均为矩形且间隔交替设置；所述第一区块与所述第二区块颜色不一致，且所述第一区块与所述第二区块有且仅有一个为黑色；

根据所述图卡图像，确定所述图卡图像的扫描区块；

根据所述扫描区块确定扫描区域，所述扫描区域为扫描区块中的至少一区域；

对所述扫描区域进行扫描，确定第一检测信息，所述第一检测信息与扫描位置相关联；

根据所述第一检测信息，确定所述图卡图像的第一缺陷信息；

根据所述第一缺陷信息，确定所述光学模组的模组缺陷信息。

2.如权利要求1所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述图卡图像，确定所述图卡图像的扫描区块，包括：

获取所述第一区块与所述第二区块的颜色；

当所述第一区块的颜色为黑色时，确定所述第一区块为所述扫描区块；

当所述第二区块的颜色为黑色时，确定所述第二区块为所述扫描区块。

3.如权利要求1所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述图卡图像，确定所述图卡图像的扫描区块，还包括：

根据所述第一区块与所述第二区块确定交点区域的大小；

根据所述交点区域的大小，确定所述扫描区块。

4.如权利要求1所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述扫描区块确定扫描区域，包括：

获取所述扫描区块的非扫描宽度；

根据所述扫描区块与所述非扫描宽度，确定所述扫描区域。

5.如权利要求1所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述第一检测信息，确定所述图卡图像的第一缺陷信息，包括：

将所述第一检测信息与第一预设阈值进行对比；

当所述第一检测信息大于所述第一预设阈值时，确定所述第一检测信息为所述图卡图像的第一缺陷信息。

6.如权利要求1所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，根据所述第一缺陷信息，确定所述光学模组的所述模组缺陷信息，包括：

获取所述图卡与所述图卡图像的对应关系，

根据所述第一缺陷信息以及所述图卡与所述图卡图像的对应关系，确定所述光学模组的所述模组缺陷信息。

7.如权利要求1所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述控制所述光学模组的所述显示单元显示所述图卡，之前还包括：

调整所述采集单元，使经过所述采集单元的中心的法线与经过所述显示单元的中心的法线共线。

8.如权利要求1所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述第一缺陷信息，确定所述光学模组的所述模组缺陷信息，之后还包括：

调整所述图卡，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤，直至全部所述图卡完成扫描。

9.如权利要求8所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述调整所述图卡，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤，直至全部所述图卡完成扫描的步骤，包括：

调整所述图卡的检测位置，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤；

调整所述图卡的检测范围，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤。