[发明专利]应用于光学模组的缺陷检测方法及检测装置

说明书

本申请公开一种应用于光学模组的缺陷检测方法及检测装置，所述光学模组包括采集单元与显示单元，所述应用于光学模组的缺陷检测方法包括：控制所述光学模组的所述显示单元显示所述图卡；获取所述图卡的图卡图像；所述图卡图像包括第一区块与第二区块，所述第一区块与所述第二区块均为矩形且间隔交替设置；所述第一区块与所述第二区块颜色不一致，且所述第一区块与所述第二区块有且仅有一个为黑色；根据所述图卡图像，确定所述光学模组的模组缺陷信息。本申请提供一种应用于光学模组的缺陷检测方法及检测装置，旨在解决现有技术中无法准确对光学模组的透明或半透明缺陷进行检测，容易出现透明或半透明缺陷漏检的问题。

技术领域

本申请涉及光学监测技术领域，尤其涉及一种应用于光学模组的缺陷检测方法及检测装置。

背景技术

现有技术中的投影产品中，光学模组的成像质量直接影响投影产品的使用效果，在光学模组各部分组件组装过程中，不可避免的会存在异物进入光学模组内部，因此在投影产品组装完成后需要进行缺陷检测，以保证光学模组在实际工作中视野不受脏点影响。

目前，光学模组中的缺陷主要通过投影白屏图像，在对通过相机采集到的白屏图像进行对比度计算确定光学模组中的缺陷，但是这种检测方法无法准确对透明或半透明缺陷进行检测，从而导致在缺陷检测过程中，出现透明或半透明缺陷漏检的问题，降低了投影产品的组装合格率。

发明内容

本申请提供一种应用于光学模组的缺陷检测方法及检测装置，旨在解决现有技术中无法准确对光学模组的透明或半透明缺陷进行检测，容易出现透明或半透明缺陷漏检的问题。

为实现上述目的，本申请提出了一种应用于光学模组的缺陷检测方法，所述光学模组包括采集单元与显示单元，所述应用于光学模组的缺陷检测方法包括：

控制所述光学模组的所述显示单元显示所述图卡；

获取所述图卡的图卡图像；所述图卡图像包括第一区块与第二区块，所述第一区块与所述第二区块均为矩形且间隔交替设置；所述第一区块与所述第二区块颜色不一致，且所述第一区块与所述第二区块有且仅有一个为黑色；

根据所述图卡图像，确定所述光学模组的模组缺陷信息。

可选地，所述根据所述图卡图像，确定所述光学模组的模组缺陷信息，包括：

根据所述图卡图像，确定所述图卡图像的扫描区块；

根据所述扫描区块确定扫描区域，所述扫描区域为扫描区块中的至少一区域；

对所述扫描区域进行扫描，确定所述第一检测信息，所述第一检测信息与扫描位置相关联；

根据所述第一检测信息，确定所述图卡图像的第一缺陷信息；

根据所述第一缺陷信息，确定所述光学模组的所述模组缺陷信息。

可选地，所述根据所述图卡图像，确定所述图卡图像的扫描区块，包括：

获取所述第一区块与所述第二区块的颜色；

当所述第一区块的颜色为黑色时，确定所述第一区块为所述扫描区块；

当所述第二区块的颜色为黑色时，确定所述第二区块为所述扫描区块。

可选地，所述根据所述图卡图像，确定所述图卡图像的扫描区块，还包括：

根据所述第一区块与所述第二区块确定交点区域的大小；

根据所述交点区域的大小，确定所述扫描区块。

可选地，所述根据所述扫描区块确定扫描区域，包括：

获取所述扫描区块的非扫描宽度；

根据所述扫描区块与所述非扫描宽度，确定所述扫描区域。