[发明专利]产品缺陷检测方法、装置及计算机设备

权利要求书

1.一种产品缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取检测请求，并对所述检测请求进行解析获取包含产品表面的待检测图片；

通过预设缺陷检测模型检测所述待检测图片是否包含目标物体；

若检测到所述待检测图片包含目标物体，则对所述目标物体对应的目标区域进行标记，以及提取所述目标物体的目标特征，并对所述目标特征进行缺陷分类。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过预设缺陷检测模型检测所述待检测图片是否包含目标物体，包括：

通过所述预设缺陷检测模型计算所述待检测图片中各个区域内的图片特征；

判断所述各个区域内的图片特征是否为预设物体特征；

若判断任一图片特征为预设物体特征，则将确定所述待检测图片包含目标物体。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述通过预设缺陷检测模型检测所述待检测图片是否包含目标物体之前，还包括：

获取多个待训练样本图片；

对所述多个待训练样本图片进行样本特征提取，通过Faster RCNN算法对多个所述样本特征进行训练生成所述预设缺陷检测模型。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

根据所述缺陷分类确定所述产品表面的缺陷等级；

根据所述缺陷等级确定不同的操作处理。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

获取预设时间段内的各个检测结果；

判断所述各个检测结果是否准确，并计算在所述预设时间段内的准确率；

若所述准确率小于预设标准，则更新所述预设缺陷检测模型。

6.一种产品缺陷检测装置，其特征在于，包括：

第一获取模块，用于获取检测请求，并对所述检测请求进行解析获取包含产品表面的待检测图片；

检测模块，用于通过预设缺陷检测模型检测所述待检测图片是否包含目标物体；

分类模块，用于若检测到所述待检测图片包含目标物体，则对所述目标物体对应的目标区域进行标记，以及提取所述目标物体的目标特征，并对所述目标特征进行缺陷分类。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述检测模块，具体用于：

通过所述预设缺陷检测模型计算所述待检测图片中各个区域内的图片特征；

判断所述各个区域内的图片特征是否为预设物体特征；

若判断任一图片特征为预设物体特征，则将确定所述待检测图片包含目标物体。

8.如权利要求6所述的装置，其特征在于，还包括：

第二获取模块，用于获取多个待训练样本图片；

生成模块，用于对所述多个待训练样本图片进行样本特征提取，通过Faster RCNN算法对多个所述样本特征进行训练生成所述预设缺陷检测模型。

9.如权利要求8所述的装置，其特征在于，还包括：

确定模块，用于根据所述缺陷分类确定所述产品表面的缺陷等级；

处理模块，用于根据所述缺陷等级确定不同的操作处理。

10.如权利要求6所述的装置，其特征在于，还包括：

第三获取模块，用于获取预设时间段内的各个检测结果；

判断计算模块，用于判断所述各个检测结果是否准确，并计算在所述预设时间段内的准确率；

调整模块，用于若所述准确率小于预设标准，则更新所述预设缺陷检测模型。

11.一种计算机设备，其特征在于，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时，实现如权利要求1-5中任一所述的产品缺陷检测方法。

12.一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-5中任一所述的产品缺陷检测方法。