[发明专利]心电信号分类方法、装置、电子设备和存储介质有效

专利信息
申请号: 201910251758.5 申请日: 2019-03-29
公开(公告)号: CN109770862B 公开(公告)日: 2022-03-08
发明(设计)人: 胡静;赵巍 申请(专利权)人: 广州视源电子科技股份有限公司
主分类号: A61B5/349 分类号: A61B5/349;A61B5/36;A61B5/352;A61B5/361
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 关志琨;冯右明
地址: 510530 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 电信号 分类 方法 装置 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种心电信号分类方法,其特征在于,包括:

在心电信号中,提取信号波形;

获取所述信号波形的形态特征;所述形态特征包括校正特征;所述获取所述信号波形的形态特征,包括:确定所述信号波形的QT间期;获取所述QT间期的QT间期波形;获取所述QT间期的QT波时间序列,以及,获取所述信号波形的RR间期开方值、RR间期开立方值和RR间期参考系数;计算所述QT波时间序列与所述RR间期开方值的比值,得到QT开平方校正值;计算所述QT波时间序列与所述RR间期开立值的比值,得到QT开立方校正值;计算所述QT波时间序列与所述RR间期参考系数之和,得到QT参考校正值;将所述QT开平方校正值、所述QT开立方校正值和所述QT参考校正值,作为所述校正特征;

获取所述形态特征的形态统计特征,并将所述形态统计特征输入至分类器;其中,计算所述QT开平方校正值的中位数,得到第一校正统计值;计算所述QT开平方校正值的标准差和均值,并计算所述QT开平方校正值的标准差与所述QT开平方校正值的均值的比值,得到第二校正统计值;计算所述QT开立方校正值的中位数,得到第三校正统计值;计算所述QT开立方校正值的标准差和均值,并计算所述QT开立方校正值的标准差与所述QT开立方校正值的均值的比值,得到第四校正统计值;计算所述QT参考校正值的中位数,得到第五校正统计值;计算所述QT参考校正值的标准差和均值,并计算所述QT参考校正值的标准差与所述QT参考校正值的均值的比值,得到第六校正统计值;将所述第一校正统计值、所述第二校正统计值、所述第三校正统计值、所述第四校正统计值、所述第五校正统计值和所述第六校正统计值,作为所述形态统计特征;

获取所述分类器输出的分类结果,得到所述心电信号的信号类型;所述分类结果为所述分类器根据所述形态统计特征进行分类的结果;所述信号类型包括房颤节律、非房颤异常节律、正常窦性心律和噪声。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述形态特征还包括宽度特征,所述获取所述信号波形的形态特征,包括:

确定所述信号波形的QR间期和RS间期;

获取所述QR间期的QR间期宽度,以及,获取所述RS间期的RS间期宽度;

将所述QR间期宽度和所述RS间期宽度,作为所述宽度特征。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述获取所述QR间期的QR间期宽度,以及,获取所述RS间期的RS间期宽度,包括:

获取Q波出现时间、R波出现时间和S波出现时间;

计算所述S波出现时间与所述R波出现时间的时间间隔,得到所述RS间期宽度;

计算所述R波出现时间与所述Q波出现时间的时间间隔,得到所述QR间期宽度。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述获取所述形态特征的形态统计特征,包括:

计算所述RS间期宽度的中位数,得到第一宽度统计值;

计算所述RS间期的标准差和均值,并计算所述RS间期的标准差与所述RS间期的均值的比值,得到第二宽度统计值;

计算所述QR间期宽度的中位数,得到第三宽度统计值;

计算所述QR间期的标准差和均值,并计算所述QR间期的标准差与所述QR间期的均值的比值,得到第四宽度统计值;

将所述第一宽度统计值、所述第二宽度统计值、所述第三宽度统计值和所述第四宽度统计值,作为所述形态统计特征。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述形态特征还包括斜率特征,所述获取所述信号波形的形态特征,包括:

确定所述信号波形的QR间期、RS间期和ST间期;

获取所述QR间期的QR间期斜率,以及,获取所述RS间期的RS间期斜率,以及,获取所述ST间期的ST间期斜率;

将所述QR间期斜率、所述RS间期斜率和所述ST间期斜率,作为所述斜率特征。

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