[发明专利]小数分频锁相环锁定检测方法及其系统有效
申请号: | 201910257380.X | 申请日: | 2019-04-01 |
公开(公告)号: | CN109936365B | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 蒋德军 | 申请(专利权)人: | 上海安路信息科技有限公司 |
主分类号: | H03L7/18 | 分类号: | H03L7/18;H03L7/187 |
代理公司: | 上海一平知识产权代理有限公司 31266 | 代理人: | 须一平;成春荣 |
地址: | 200080 上海市虹口区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 小数 分频 锁相环 锁定 检测 方法 及其 系统 | ||
1.一种小数分频锁相环锁定检测方法,所述锁相环包括压控振荡器和计数器模式分频器,其特征在于,所述方法包括:
用所述压控振荡器输出的第一时钟对输入所述锁相环的参考时钟进行采样后得到采样信号,其中所述第一时钟频率高于所述参考时钟;
将所述采样信号作为基准时钟,采样计算N个基准时钟周期内的所述分频器的计数器的过零状态值和计数值,所述计数值是在所述N个基准时钟周期内所述第一时钟的周期个数,其中N≥1;
根据所述过零状态值和计数值,以及所述分频器的输入分频比判断所述锁相环的锁定状态,其中,本步骤进一步包括以下子步骤:当N1时,计算N个连续基准时钟周期内的所述分频器的计数器的过零状态值和计数值的比值,计算该比值和所述分频器的输入分频比的差值,如果该差值在预设阈值内则所述锁相环处于锁定状态,否则处于失锁状态,以及,当N=1时,计算一个所述基准时钟周期内的所述分频器的计数器的过零状态值和计数值的比值,计算该比值和所述分频器的输入分频比的差值,如果该差值在预设阈值内则所述锁相环的锁定状态位为1,否则所述锁相环的锁定状态位为0,将M个连续基准时钟周期内的锁定状态位进行累加,其中M2,根据该累加的值判断所述锁相环的锁定状态。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据该累加的值判断所述锁相环的锁定状态,进一步包括:
对于处于锁定状态的锁相环,只有在所述累加的值大于预设值时,才判决为不锁定,对于处于失锁状态的锁相环,只有在所述累加的值为零时,才能指示重新进入锁定状态。
3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述锁相环还包括鉴相器和环路滤波器。
4.一种小数分频锁相环锁定检测系统,所述小数分频锁相环包括压控振荡器和计数器模式分频器,其特征在于,所述系统包括:
采样模块,用于用所述压控振荡器输出的第一时钟对输入所述锁相环的参考时钟进行采样后得到采样信号,其中所述第一时钟频率高于所述参考时钟;
计算模块,用于将所述采样模块输出的所述采样信号作为基准时钟,采样计算N个基准时钟周期内的所述分频器的计数器的过零状态值和计数值,所述计数值是在所述N个基准时钟周期内所述第一时钟的周期个数,其中N≥1,以及根据所述计算模块输出的所述过零状态值和计数值及所述分频器的输入分频比确定所述锁相环的锁定状态,进一步地,当N1时,计算N个连续基准时钟周期内的所述分频器的计数器的过零状态值和计数值的比值,计算该比值和所述分频器的输入分频比的差值,如果该差值在预设阈值内则所述锁相环处于锁定状态,否则处于失锁状态,以及,当N=1时,计算一个所述基准时钟周期内的所述分频器的计数器的过零状态值和计数值的比值,计算该比值和所述分频器的输入分频比的差值,如果该差值在预设阈值内则所述锁相环的锁定状态位为1,否则所述锁相环的锁定状态位为0,将M个连续基准时钟周期内的锁定状态位进行累加,其中M2,根据该累加的值判断所述锁相环的锁定状态。
5.如权利要求4所述的系统,其特征在于,所述计算模块还用于,对于处于锁定状态的锁相环,只有在所述累加的值大于预设值时,才判决为不锁定,对于处于失锁状态的锁相环,只有在所述累加的值为零时,才能指示重新进入锁定状态。
6.如权利要求4或5所述的系统,其特征在于,所述锁相环还包括鉴相器和环路滤波器。
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